显示面板及亮度校正方法与流程

[0001]
本申请属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板及亮度校正方法。


背景技术：

[0002]
全面屏已成为手机等显示装置的大趋势，显示装置为了尽可能的提高屏占比，摄像头等光学模组都会尽可能的被置于显示区域的盖板内侧，即采用屏下设计方式。通常，显示装置中的显示面板包括主显示区和副显示区，副显示区的位置与摄像头的位置对应。
[0003]
由于主显示区和副显示区的分辨率和/或像素密度不同，主显示区和副显示区可能会随显示时间的增加而寿命衰减速度不一致，进而产生灰阶亮度差异较大的问题。


技术实现要素：

[0004]
本申请提供一种显示面板及亮度校正方法，以解决第一显示区和第二显示区显示灰阶亮度差异较大的技术问题。
[0005]
为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种显示面板，包括：第一显示区，包括多个第一子像素，其中，所述多个第一子像素中的至少一个作为第一取样子像素；第二显示区，包括多个第二子像素，其中，所述多个第二子像素中的至少一个作为第二取样子像素；控制电路，用于获取所述第一取样子像素的电信号和所述第二取样子像素的电信号，并根据所述第一取样子像素的电信号和所述第二取样子像素的电信号而执行校正操作，以使所述第一显示区和所述第二显示区的灰阶亮度匹配。
[0006]
为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板亮度校正方法，包括：响应于接收到主副屏亮度校正信号，控制电路获取第一取样子像素的电信号和第二取样子像素的电信号；其中，所述显示面板包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区内多个第一子像素中的至少一个作为所述第一取样子像素，所述第二显示区内的多个第二子像素中的至少一个作为所述第二取样子像素；所述控制电路根据所述第一取样子像素的电信号和所述第二取样子像素的电信号而执行校正操作，以使所述第一显示区和所述第二显示区的灰阶亮度匹配。
[0007]
区别于现有技术情况，本申请的有益效果是：本申请所提供的显示面板包括至少一个第一取样子像素、至少一个第二取样子像素和控制电路；其中，控制电路可以获取第一取样子像素的电信号和第二取样子像素的电信号，并根据第一取样子像素的电信号和第二取样子像素的电信号而执行校正操作，以使第一显示区和第二显示区的灰阶亮度匹配。即通过上述方式可以随时自动校正第一显示区和第二显示区的灰阶亮度差异，相比于仅一次出厂时校正而言，其灵活性更高，显示面板的显示效果更好；另外，上述引入的第一取样子像素、第二取样子像素和控制电路的成本较低，所需校正的时间较短，校正效率更高。
附图说明
[0008]
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使
用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
[0009]
图1为本申请显示面板一实施方式的结构示意图；
[0010]
图2为控制电路一实施方式的结构示意图；
[0011]
图3为第一子像素或第二子像素与控制电路一实施方式的框架示意图；
[0012]
图4为图3中第一取样子像素或第二取样子像素一实施方式的电路示意图；
[0013]
图5为图4中像素驱动电路一实施方式的框架示意图；
[0014]
图6为图1中非取样的第一子像素或第二子像素的像素驱动电路一实施方式的电路示意图；
[0015]
图7为本申请显示面板亮度校正方法一实施方式的流程示意图；
[0016]
图8为图7中步骤s102对应的一实施方式的流程示意图。
具体实施方式
[0017]
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0018]
请参阅图1，图1为本申请显示面板一实施方式的结构示意图，该显示面板可以为oled显示面板、micro-oled显示面板等。该显示面板可以包括：第一显示区aa1、第二显示区aa2以及控制电路(图未示)。在本实施例中，第二显示区aa2的位置用于与摄像头等光学元件的位置对应。较佳地，该第二显示区aa2的透光率大于第一显示区aa1的透光率。
[0019]
其中，第一显示区aa1包括多个第一子像素10，且多个第一子像素10中的至少一个作为第一取样子像素100。第二显示区aa2包括多个第二子像素12，且多个第二子像素12中的至少一个作为第二取样子像素120。上述第一取样子像素100和非取样的第一子像素10相比，都执行显示功能，只是第一取样子像素100可以进一步取样电信号。同样地，上述第二取样子像素120和非取样的第二子像素12相比，都执行显示功能，只是第二取样子像素120可以进一步取样电信号。而控制电路用于获取第一取样子像素100的电信号和第二取样子像素120的电信号，并根据第一取样子像素100的电信号和第二取样子像素120的电信号而执行校正操作，以使第一显示区aa1和第二显示区aa2的灰阶亮度匹配。上述灰阶亮度匹配是指第一显示区aa1和第二显示区aa2在显示同一灰阶图像时，两者的亮度差异很小，甚至两者的亮度差异为0。此外，本申请对于上述第一取样子像素100和第二取样子像素120的位置并不限定；例如，可以从布线的角度考虑，将周围可布线空间较大的子像素的位置设置为取样子像素。
[0020]
通过上述方式可以随时自动校正第一显示区aa1和第二显示区aa2的灰阶亮度差异，相比于仅一次出厂时校正而言，其灵活性更高，显示面板的显示效果更好；另外，上述引入的第一取样子像素100、第二取样子像素120和控制电路的成本较低，所需校正的时间较短，校正效率更高。
[0021]
在一个实施方式中，如图2所示，图2为控制电路一实施方式的结构示意图。上述控
制电路14包括比较器140和校正器142。其中，比较器140用于获取第一取样子像素100在至少一个预设灰阶下的第一电信号和第二取样子像素120在至少一个预设灰阶下的第二电信号，根据同一灰阶对应的第一电信号和第二电信号而获取校准参数β；校正器142用于根据校准参数β更新第二显示区aa2在各个灰阶值的驱动电压vdate(即数据电压)，从而利用更新后的驱动电压vdate驱动第二显示区aa2中的第二子像素12，以使第一显示区aa1和第二显示区aa2的灰阶亮度匹配。上述比较器140比较的第一电信号和第二电信号可以为电流信号或电压信号；在本实施例中，上述校正器142可以校正驱动电压，在其他实施例中，上述校正器142也可校正各个灰阶的电源电压等。一般而言，亮度与电流大小以及发光时间占空比相关，而电流大小与驱动电压vdata相关。上述通过校正驱动电压vdata来校正亮度的方式，较为方便，且易于实现。
[0022]
在一个应用场景中，对于比较器140比较过程中所涉及的预设灰阶的选取可以根据实际需求进行选择，例如，预设灰阶为l255、l128、l64、l32、l8等。又例如，可尽可能选取灰阶值较小的作为预设灰阶，这是因为一般第一显示区aa1和第二显示区aa2在低灰阶时亮度差异较为明显，将低灰阶选择作为预设灰阶可以提高控制电路14校正的精度。
[0023]
在又一个应用场景中，上述预设灰阶的个数可以为至少两个。上述第一电信号和第二电信号可以为电流信号，比较器140可以将第一取样子像素100在某一预设灰阶下的第一电信号和第二取样子像素120在该预设灰阶下的第二电信号的比值作为校准参数β；校正器142可以将第二取样子像素120在预设灰阶下的原始驱动电压与校准参数β的乘积作为更新驱动电压。
[0024]
而当比较器140和校正器142获得多个预设灰阶下的更新驱动电压后，对于其他未校正的灰阶下的驱动电压而言，可以利用已经校正的灰阶下的驱动电压计算获得其他未校正的驱动电压。
[0025]
例如，上述比较器140还用于获得第一已校正灰阶下的第二子像素12的第一更新驱动电压和第一原驱动电压，以及第二已校正灰阶下的第二子像素12的第二更新驱动电压和第二原驱动电压，其中，当前待校正灰阶位于第一已校正灰阶和第二已校正灰阶之间；根据上述第一更新驱动电压、第一原驱动电压、第二更新驱动电压以及第二原驱动电压获得当前待校正灰阶对应的校准参数；举例而言，可以获得第一更新驱动电压与第一原驱动电压的第一比值、以及第二更新驱动电压与第二原驱动电压的第二比值；将第一比值与第二比值之和的一半作为校准参数。校正器142还用于将该校准参数与当前待校正灰阶下的第二子像素12的原驱动电压的乘积作为其更新驱动电压，其中，上述第一已校正灰阶以及第二已校正灰阶可以是预设灰阶，也可以是非预设灰阶。上述过程用公式表示如下：
[0026]
vc_cal＝(va_cal/va_old+vb_cal/vb_old)/2*vc_old；
[0027]
其中，a和b是已知相邻的已校正灰阶，c是介于a和b间的待校正灰阶；va_cal是灰阶a校正后的更新驱动电压，vb_cal是灰阶b校正后的更新驱动电压；va_old是灰阶a校正前的原始驱动电压，vb_old是灰阶b校正前的原始驱动电压；vc_cal是灰阶c校正后的更新驱动电压，vc_old是灰阶c校正前的原始驱动电压。
[0028]
当然，在又一个应用场景中，对于其他未校正的灰阶下的驱动电压而言，也可利用其他方式进行校正。例如，可以获得多个预设灰阶下的校准参数与预设灰阶所形成的曲线关系，然后根据该曲线关系可以获得其他灰阶下的校准参数，然后利用该校准参数可以进
行后续驱动电压校正。
[0029]
在又一个实施方式中，请参阅图3，图3为第一子像素或第二子像素与控制电路一实施方式的框架示意图。第一子像素10和第二子像素12均包括像素驱动电路20和发光单元22；其中，像素驱动电路20连接控制电路14以接收驱动电压vdate；发光单元22连接像素驱动电路20，像素驱动电路20可以驱动对应的发光单元22发光，该发光单元22可以为红色发光单元、绿色发光单元、蓝色发光单元等。其中，控制电路14通过调节第二子像素12中的像素驱动电路20的驱动电压vdate，以使第一显示区aa1内的发光单元22和第二显示区aa2内的发光单元22的灰阶亮度匹配。上述第一子像素10和第二子像素12的结构设计较为简单，且工艺易于制得。
[0030]
在本实施例中，第一子像素10中的像素驱动电路20的结构和与第二子像素12中的像素驱动电路20的结构可以相同或者不同。第一子像素10中的一个像素驱动电路20可以驱动一个发光单元22发光，第二子像素12中的一个像素驱动电路20可以驱动至少一个发光单元22发光。此外，第一子像素10中的发光单元22的大小以及排布方式也可与第二子像素12中的发光单元22的大小以及排布方式不同，以达到第二显示区aa2的透光率大于第一显示区aa1的透光率的目的。
[0031]
进一步，请再次参阅图3，对于第一取样子像素100和第二取样子像素120而言，其分别进一步包括侦测采样电路24，连接像素驱动电路20，以侦测施加至发光单元22的电信号。通过上述侦测采样电路24的设计方式可以较为方便的获取流经发光单元22的电流或施加的电压等；且本申请无需使每个第一子像素10和每个第二子像素12中均设置侦测采样电路24，其成本较低。此外，上述侦测采样电路24和像素驱动电路20可以均位于显示面板中的阵列层，在制备像素驱动电路20的过程中可以一并制备侦测采样电路24。
[0032]
在一个应用场景中，如图4所示，图4为图3中第一取样子像素或第二取样子像素一实施方式的电路示意图。该侦测采样电路24包括开关单元240和侦测单元242。开关单元240电连接于像素驱动电路20的输出端p和对应的发光单元22所在的通路上，且开关单元240在侦测对应的发光单元22的电流时断开，而在使对应的发光单元22发光时导通。侦测单元242电连接于像素驱动电路20的输出端p和控制电路14(图4中未示意)之间，且侦测单元242在侦测对应的发光单元22的电流时导通，而在使对应的发光单元22发光时断开。上述侦测采样电路24的设计方式较为简单，仅需要在原先的像素驱动电路20的基础上进行简单变更即可。
[0033]
例如，上述开关单元240包括开关晶体管k1，其第一通路端k10和第二通路端k12分别与像素驱动电路20的输出端p和发光单元22的阳极220电连接，其控制端k14接收第一使能信号em1。和/或，侦测单元242包括侦测晶体管k2，其第一通路端k20和第二通路端k22分别与像素驱动电路20的输出端p和控制电路14(图4中未示意)电连接，其控制端k24接收侦测信号detect。上述开关单元240和侦测单元242的结构较为简单，所占空间较小，以降低对原先显示面板布局的影响。当然，在其他实施例中，上述开关单元240和侦测单元242还可包括其他电路元件，例如，上述控制电路14通过侦测晶体管k2可以获取到电流信号，在其他实施例中，也可在侦测晶体管k2与控制电路14之间引入其他元件，以使得控制电路14获取到电压信号。
[0034]
在又一个实施例中，请一并参阅图4和图5，图5为图4中像素驱动电路一实施方式
的框架示意图。按照晶体管个数，该像素驱动电路20可以为2t1c驱动电路、3t1c驱动电路、3t2c驱动电路、5t1c驱动电路、6t1c驱动电路、7t1c驱动电路、7t2c驱动电路、8t1c驱动电路等。按照功能分，该像素驱动电路20可以包括：电源提供单元200、驱动电压写入单元202、驱动单元204和初始化单元206。
[0035]
其中，电源提供单元200用于接收第二使能信号em2，并根据第二使能信号em2而为对应的发光单元22提供电源信号vdd；例如，图4中电源提供单元200包括薄膜晶体管t1，其第一通路端接收电源信号vdd，其控制端接收第二使能信号em2。
[0036]
驱动电压写入单元202接收第一扫描信号s1，以在第一扫描信号s1(也称为本级扫描信号)的驱动下将驱动电压vdata写入；例如，图4中驱动电压写入单元202包括薄膜晶体管t2和t3，t2和t3的控制端接收第一扫描信号，t2的第一通路端接收驱动电压vdata。此外，图4中t3是双栅晶体管的形式，在其他实施例中，t3结构也可与t2结构相同，本申请对此不作限定。
[0037]
驱动单元204连接驱动电压写入单元202和电源提供单元200，以写入保存驱动电压vdata，并根据驱动电压vdata，利用电源信号vdd生成匹配驱动电压vdata的电流，从而利用电流驱动对应的发光单元22发光；例如，图4中驱动单元204包括薄膜晶体管t4。
[0038]
初始化单元206接收第二扫描信号s2和第三扫描信号s3，以在第二扫描信号s2和第三扫描信号s3的驱动下而接收参考信号vref，并利用参考信号vref对驱动单元204以及对应的发光单元22进行初始化；例如，图4中初始化单元206包括薄膜晶体管t5和t6。此外，图4中t5是双栅晶体管的形式，在其他实施例中，t5结构也可与t6结构相同，本申请对此不作限定。
[0039]
其中，开关单元240电连接于驱动单元204的输出端p1和阳极220之间，侦测单元242电连接于驱动单元204的输出端p1和控制电路14之间。
[0040]
上述像素驱动电路20的结构设计较为简单成熟，且开关单元240和侦测单元242的设计方式可以使得整个电路较为简单。
[0041]
对应的，对于其他非取样子像素的第一子像素10和第二子像素12的像素驱动电路20a而言，其电路结构可以如图6所示，图6为图1中非取样的第一子像素或第二子像素的像素驱动电路一实施方式的电路示意图。图6中的像素驱动电路20a与图4中像素驱动电路20的区别在于，电源提供单元(图6中未标示)包括薄膜晶体管t1和k1a，其中，k1a原本为图4中的开关晶体管，为了降低制备工艺的复杂程度，直接将图4中的侦测晶体管k2去除，将图4中的开关晶体管k1的控制端连接至薄膜晶体管t1的控制端即可，进而形成图6中的薄膜晶体管k1a。
[0042]
在一个应用场景中，对于图4中的像素驱动电路20和侦测采样电路24的工作过程可以为：
[0043]
s1：t5开启，其余晶体管关闭，将vref电压充电至n1节点，以对n1节点进行初始化；
[0044]
s2：t2和t3开启，其余晶体管关闭，将vdata电压充电至n2节点，此时t4为source follower(源极跟随器)，n1节点电压往vdata电压靠拢；
[0045]
s3：t6开启，其余关闭，vref电压充电至阳极220节点，以对阳极220进行初始化；
[0046]
s4：t1、k1、t4开启，其余晶体管关闭，n1节点电压控制t1电流。此时有一电流流经阳极220节点，发光单元22发光；
[0047]
s5(取样步骤)：t1、k2、t4开启，其余晶体管关闭，此时有一电流流经k2，且该电流与步骤s4中大小相同。
[0048]
从上述步骤可以看出，上述侦测采样电路24的加入对于正常的发光过程并没有影响，且侦测方式较为简单；另外，为了提高侦测的精确度，上述步骤s5需位于步骤s4之后，即让发光单元22正常发光后，再进行侦测步骤。
[0049]
请参阅图7，图7为本申请显示面板亮度校正方法一实施方式的流程示意图，上述亮度校正方法具体包括：
[0050]
s101：响应于接收到主副屏亮度校正信号，控制电路获取第一取样子像素的电信号和第二取样子像素的电信号；其中，显示面板包括第一显示区和第二显示区，第一显示区内多个第一子像素中的至少一个作为第一取样子像素，第二显示区内的多个第二子像素中的至少一个作为第二取样子像素。
[0051]
具体地，该主副屏亮度校正信号的来源可以为用户触发，也可以为显示面板在第一显示区和第二显示区显示同一灰阶图像时，发现两者亮度差异明显时自动触发。
[0052]
s102：控制电路根据第一取样子像素的电信号和第二取样子像素的电信号而执行校正操作，以使第一显示区和第二显示区的灰阶亮度匹配。
[0053]
具体地，在一个实施方式中，如图8所示，图8为图7中步骤s102对应的一实施方式的流程示意图。上述步骤s102具体包括：
[0054]
s201：获取第一取样子像素在至少一个预设灰阶下的第一电信号和第二取样子像素在至少一个预设灰阶下的第二电信号，并根据第一电信号和第二电信号而获取校准参数。
[0055]
例如，当第一电信号和第二电信号为电流值时，上述校准参数可以为第一电信号和第二电信号的比值。
[0056]
s202：根据校准参数更新第二显示区在各个灰阶值的驱动电压，从而利用更新后的驱动电压驱动第二显示区中的第二子像素。
[0057]
具体地，对于预设灰阶而言，可以将当前预设灰阶值下的第二子像素的原始驱动电压与对应的校准参数的乘积作为校正后的更新驱动电压。
[0058]
对于非预设灰阶而言，上述步骤s201还包括：待对多个预设灰阶进行校正后，其可通过与当前待校正灰阶相邻的两个已校正的灰阶处对应的第二子像素的原始驱动电压和更新驱动电压获得其对应的校准参数。对应的，上述步骤s202还包括：将当前待校正灰阶下的第二子像素的原始驱动电压与其对应的校准参数的乘积作为校正后的更新驱动电压。具体过程可参见上方结构部分实施例，在此不再赘述。上述对各个灰阶值下驱动电压进行校正的方法较为简单，且计算量较小。
[0059]
以上所述仅为本申请的实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

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