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一种光照减粘保护膜的制作方法

2021-02-02 19:02:01|271|起点商标网
一种光照减粘保护膜的制作方法

本实用新型涉及保护膜技术领域,尤其涉及一种光照减粘保护膜。



背景技术:

在半导体等其他电子元件在加工时需要用到光照减粘保护膜,使用其高粘特性使得在加工过程中不易损伤元器件,加工完毕后再将其剥离、撕去即可。然而现有的保护膜使用过程中受静电作用容易吸附灰尘、使产品间吸附等问题,且在剥离过程中粘胶容易残留到工件上。



技术实现要素:

为解决背景技术中存在的技术问题,本实用新型提出一种光照减粘保护膜。

本实用新型提出的一种光照减粘保护膜,包括:基材层、位于基材层一侧减粘层和位于减粘层远离基材层一侧的离型层,其中:

基材层远离离型层的一侧设有抗静电层,基材层包括底膜层和结合层,所述结合层经线与纬线纵横交错形成,且结合层厚度的一半位于底膜层内,其厚度的另一部位于减粘层内。

优选地,经线内部设有轴向延伸的中心孔。

优选地,纬线内部设有轴向延伸的中心孔。

优选地,抗静电层的厚度为3-5微米。

优选地,基材层的厚度为12-200微米。

优选地,减粘层的厚度为5-75微米。

本实用新型中,通过在基材层远离减粘层的一侧设置抗静电层,可有效避免该保护膜制程异物污染、产品间吸附等问题。且通过将基材层设置层底膜层和结合层,并对二者与减粘层之间的关系进行设置,可有效增减粘层与基材层的结构强度,避免撕去过程中减粘层脱落残留在半导体等其他电子元件上,同时结合层的设置还可有效强该保护膜的抗拉强度。

附图说明

图1为实用新型提出的一种光照减粘保护膜的结构示意图。

具体实施方式

下面,通过具体实施例对本实用新型的技术方案进行详细说明。

如图1所示,图1为实用新型提出的一种光照减粘保护膜的结构示意图。

参照图1,本实用新型提出的一种光照减粘保护膜,包括:基材层1、位于基材层1一侧减粘层2和位于减粘层2远离基材层1一侧的离型层3,其中:

基材层1远离离型层3的一侧设有抗静电层4,基材层1包括底膜层11和结合层12,所述结合层12经线与纬线纵横交错形成,且结合层12厚度的一半位于底膜层11内,其厚度的另一部位于减粘层2内,从而可有效增强基材层1与减粘层2的结合强度,以及抗拉强度。

由上可知,本实用新型通过在基材层1远离减粘层2的一侧设置抗静电层4,可有效避免该保护膜制程异物污染、产品间吸附等问题。且通过将基材层1设置层底膜层11和结合层12,并对二者与减粘层2之间的关系进行设置,可有效增减粘层2与基材层1的结构强度,避免撕去过程中减粘层2脱落残留在半导体等其他电子元件上,同时结合层12的设置还可有效强该保护膜的抗拉强度。

此外,本实施例中,经线和纬线的内部分别设有轴向延伸的中心孔,以使该保护膜在厚度方向上具有移动的变形空间,以增强对工件的防护效果。

本实施例中,抗静电层4的厚度为3-5微米。基材层1的厚度为12-200微米。减粘层2的厚度为5-75微米。

本实施例中,减粘层2为丙烯酸型减粘树脂。

以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

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