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一种渣皮脱落程度分析方法、终端设备及存储介质与流程

2021-01-30 04:01:29|300|起点商标网
一种渣皮脱落程度分析方法、终端设备及存储介质与流程

[0001]
本发明涉及高炉炼铁领域,尤其涉及一种渣皮脱落程度分析方法、终端设备及存储介质。


背景技术:

[0002]
高炉渣皮为高炉耐材的保护层,对高炉的长寿及稳定操作有重要影响。当渣皮脱落时,冷却壁温度较高,影响耐材寿命,且当渣皮由于过厚而脱落时,会引起炉凉,影响高炉的正常生产。因此,需要掌握高炉渣皮脱落的情况,以便及时采取相应的措施,保障高炉的长期稳定运行。


技术实现要素:

[0003]
为了解决上述问题,本发明提出了一种渣皮脱落程度分析方法、终端设备及存储介质。
[0004]
具体方案如下:
[0005]
一种渣皮脱落程度分析方法,包括以下步骤:
[0006]
s1:采集一段时间内的表征高炉状态的热状态参数值,并对采集的所有热状态参数值进行统计分析得到所有热状态参数值的平均值和方差,进而确定热状态参数值的正常工作状态范围;
[0007]
s2:实时采集热状态参数值,根据热状态参数值与正常工作状态范围的关系判断是否发生渣皮脱落,当发生渣皮脱落时,记录当前热状态参数值对应的渣皮脱落的位置和时间;
[0008]
s3:设定判断周期,根据记录的渣皮脱落的位置和时间确定每个判断周期内的所有渣皮脱落的位置和数量,进而判断渣皮脱落的程度。
[0009]
进一步的,热状态参数值为冷却壁温度。
[0010]
进一步的,步骤s2中设定判断周期,将实时采集的一个判断周期内的所有热状态参数值进行平均处理,将平均处理后的平均值作为用于判断与正常工作状态范围的关系的热状态参数值。
[0011]
进一步的,步骤s2中发生渣皮脱落的判断方法为:判断热状态参数值是否高于正常工作状态范围的上限值且与上限值的差值大于上限阈值,如果是,则判断发生渣皮脱落。
[0012]
进一步的,上限阈值的取值范围为30~50℃。
[0013]
进一步的,渣皮脱落的程度的判断方法包括:当判断周期内渣皮脱落的总数量大于总数量阈值时,判断渣皮脱落的程度为由于整体边缘气流过大而造成的渣皮脱落现象。
[0014]
进一步的,渣皮脱落的程度的判断方法包括:当判断周期内某处渣皮脱落位置处的周围额定范围内渣皮脱落的数量大于周围数量阈值时,判断渣皮脱落的程度为由该处渣皮脱落位置造成的渣皮脱落现象。
[0015]
一种渣皮脱落程度分析终端设备,包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中
并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现本发明实施例上述的方法的步骤。
[0016]
一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例上述的方法的步骤。
[0017]
本发明采用如上技术方案,通过实时分析表征高炉内部热状态的参数值,快速分析高炉每段每个位置的渣皮脱落情况,同时根据渣皮脱落的位置信息判断渣皮脱落的程度,为高炉的进一步操作提供依据。
附图说明
[0018]
图1所示为本发明实施例一的流程图。
具体实施方式
[0019]
为进一步说明各实施例,本发明提供有附图。这些附图为本发明揭露内容的一部分,其主要用以说明实施例,并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容,本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本发明的优点。
[0020]
现结合附图和具体实施方式对本发明进一步说明。
[0021]
实施例一:
[0022]
本发明实施例提供了一种渣皮脱落程度分析方法,如图1所示,所述方法包括以下步骤:
[0023]
s1:采集一段时间内的表征高炉状态的热状态参数值,并对采集的所有热状态参数值进行统计分析得到所有热状态参数值的平均值和方差,进而确定热状态参数值的正常工作状态范围。
[0024]
热状态参数值包括冷却壁温度、冷却水温差以及冷却壁的热负荷等,该实施例中优选选择冷却壁温度作为热状态参数值,经过统计分析确定冷却壁温度的平均值和方差后,确定冷却壁温度正常工作状态范围为50~100℃。
[0025]
s2:实时采集热状态参数值,根据热状态参数值与正常工作状态范围的关系判断是否发生渣皮脱落,当发生渣皮脱落时,记录当前热状态参数值对应的渣皮脱落的位置和时间。
[0026]
由于热状态参数值的变化速度较快,单独一个时刻的热状态参数值可能不能进行准确判断,因此该实施例中设定判断周期,将实时采集的一个判断周期内的所有热状态参数值进行平均处理,将平均处理后的平均值作为用于判断与正常工作状态范围的关系的热状态参数值。如设定判断周期为5分钟,将实时采集的5分钟的所有热状态参数值进行平均处理。通过上述平均处理可以提升判断的准确性。
[0027]
根据热状态参数值与正常工作状态范围的关系判断是否发生渣皮脱落的方法为:判断热状态参数值是否高于正常工作状态范围的上限值且与上限值的差值大于上限阈值,如果是,则判断发生渣皮脱落。该实施例中设定上限阈值需满足30~50℃的范围。
[0028]
s3:设定判断周期,根据记录的渣皮脱落的位置和时间确定每个判断周期内的所有渣皮脱落的位置和数量,进而判断渣皮脱落的程度。
[0029]
渣皮脱落的程度的判断方法包括:
[0030]
当判断周期内渣皮脱落的总数量大于总数量阈值时,判断渣皮脱落的程度为由于整体边缘气流过大而造成的严重渣皮脱落现象。
[0031]
当判断周期内某处渣皮脱落位置处的周围额定范围内渣皮脱落的数量大于周围数量阈值时,判断渣皮脱落的程度为由该处渣皮脱落位置造成的渣皮脱落现象。
[0032]
总数量阈值和周围数量阈值本领域技术人员可以根据经验和实验数据进行设定,在此不做限制。
[0033]
该实施例中设定判断周期为一天,本领域技术人员可以根据实际需求对其进行修改设定,在此不做限制。
[0034]
通过本发明实施例一方法,可以快速、方便地分析当前高炉的渣皮脱落情况,也可以随时进行历史查询,为高炉生产和操作提供帮助。
[0035]
实施例二:
[0036]
本发明还提供一种渣皮脱落程度分析终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现本发明实施例一的上述方法实施例中的步骤。
[0037]
进一步地,作为一个可执行方案,所述渣皮脱落程度分析终端设备可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述渣皮脱落程度分析终端设备可包括,但不仅限于,处理器、存储器。本领域技术人员可以理解,上述渣皮脱落程度分析终端设备的组成结构仅仅是渣皮脱落程度分析终端设备的示例,并不构成对渣皮脱落程度分析终端设备的限定,可以包括比上述更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述渣皮脱落程度分析终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等,本发明实施例对此不做限定。
[0038]
进一步地,作为一个可执行方案,所称处理器可以是中央处理单元(central processing unit,cpu),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor,dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit,asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array,fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等,所述处理器是所述渣皮脱落程度分析终端设备的控制中心,利用各种接口和线路连接整个渣皮脱落程度分析终端设备的各个部分。
[0039]
所述存储器可用于存储所述计算机程序和/或模块,所述处理器通过运行或执行存储在所述存储器内的计算机程序和/或模块,以及调用存储在存储器内的数据,实现所述渣皮脱落程度分析终端设备的各种功能。所述存储器可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序;存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据等。此外,存储器可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如硬盘、内存、插接式硬盘,智能存储卡(smart media card,smc),安全数字(secure digital,sd)卡,闪存卡(flash card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
[0040]
本发明还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例上述方法的步骤。
[0041]
所述渣皮脱落程度分析终端设备集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实
现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、u盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(rom,read-only memory)、随机存取存储器(ram,random access memory)以及软件分发介质等。
[0042]
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本发明,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所附权利要求书所限定的本发明的精神和范围内,在形式上和细节上可以对本发明做出各种变化,均为本发明的保护范围。

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