一种显示屏测试方法、示波器及存储介质与流程

2021-01-25 17:01:25|

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本发明涉及显示屏测试技术领域，尤其涉及的是一种显示屏测试方法、示波器及存储介质。

背景技术：

进入21世纪，随着led电视技术越来越成熟，led电视上配置的显示屏的价格越来越低，专门生产显示屏的显示屏厂商会通过不断迭代升级显示屏的方式来提升利润，但电视机厂商升级电视机主板的速率与显示屏厂商迭代升级显示屏的速率并不同步，因而，在为电视机主板配置显示屏时，则需要对电视机主板配置的显示屏进行性能匹配测试，以在众多型号的显示屏中匹配到最优的显示屏。

但是，目前对显示屏进行性能匹配测试的方式是采用人工手动测试，平均测试一台电视机需要花费5小时，进而造成测试效率低下，且损耗了大量的人工成本。

因此，现有技术存在缺陷，有待改进与发展。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种显示屏测试方法、示波器及存储介质，旨在解决现有技术中的对显示屏进行性能测试效率低下且人工成本高的问题。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

一种显示屏测试方法，其中，包括：

设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样；

对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标。

进一步地，所述设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样，之前包括：

通过示波器的串口控制红外发射装置发射红外码值，开启待测设备。

进一步地，所述设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样，之后包括：

根据定制参数所属测试项目调用对应的接线图并显示，其中，所述测试项目包括时序测试和眼图测试；

根据显示的接线图连接示波器与待测设备之间的电路。

进一步地，所述设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样，具体包括：

设置示波器中的定制参数，将定制参数的参数值分别赋予示波器的衰减器、放大器和内存控制器；

分别控制衰减器、放大器和内存控制器进行波形采样。

进一步地，所述根据定制参数所属测试项目调用对应的接线图并显示，其中，所述测试项目包括时序测试和眼图测试，之后还包括：

示波器通过串口控制信号发生器发送模式切换信号至待测设备。

进一步地，所述对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标，之前包括：

在示波器中预先设置与测试项目对应的定制参数，其中，与时序测试对应的定制参数包括：通道名称、通道抗阻、触发通道、触发电平、触发类型、时基、采样率及信号幅度。

进一步地，所述对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标，具体包括：

对示波器采集的波形进行数据分析与运算，并将分析出的数据与定制参数对应的标准参数进行对比；

若分析出的数据与标准参数一致，则待测设备的显示屏测试合格；

若分析出的数据与标准参数不一致，则待测设备的显示屏测试不合格；

根据测试结果得到待测设备显示屏的性能指标，生成对应的测试报告并存储。

进一步地，所述显示屏测试方法通过matlab编写测试软件实现。

本发明还公开一种示波器，其中，包括处理器，以及与所述处理器连接的存储器，所述存储器存储有显示屏测试方法的配置程序，所述显示屏测试方法的配置程序被所述处理器执行时实现如上所述的显示屏测试方法。

本发明还公开一种存储介质，其中，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序能够被执行以用于实现如上所述的显示屏测试方法。

本发明所提供的一种显示屏测试方法、示波器及存储介质，其中，所述方法包括：设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样；对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标。通过设置示波器的测试参数，实现对显示屏的自动化测试，缩减了测试时长，保证了测试效率，且所需成本低。

附图说明

图1是本发明中显示屏测试方法的较佳实施例的流程图。

图2是本发明图1中步骤s100之后进行示波器与待测设备电路连接的流程图。

图3是本发明图1中步骤s100具体实施例的流程图。

图4是本发明图1中步骤s200具体实施例的流程图。

图5是本发明中示波器的较佳实施例的功能原理框图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

示波器是一种用途十分广泛的电子测量仪器。它能把肉眼看不见的电信号变换成看得见的图像，便于人们研究各种电现象的变化过程。示波器利用狭窄的、由高速电子组成的电子束，打在涂有荧光物质的屏面上，就可产生细小的光点(这是传统的模拟示波器的工作原理)。在被测信号的作用下，电子束就好像一支笔的笔尖，可以在屏面上描绘出被测信号的瞬时值的变化曲线。利用示波器能观察各种不同信号幅度随时间变化的波形曲线，还可以用它测试各种不同的电量，如电压、电流、频率、相位差、调幅度等等。

本发明通过对示波器进行改进，并将其应用到显示屏的屏参测试上，能够直观得知显示屏的测试参数，进而区分显示屏的质量。通过该方式能够避免现有技术中需要人工进行测试的弊端，进而保证了测试效率，节省了人工成本。

请参见图1，图1是本发明中一种显示屏测试方法的流程图。如图1所示，本发明实施例所述的一种显示屏测试方法包括以下步骤：

s100、设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样。

具体地，在对待测设备的显示屏进行屏参测试时，需要先打开待测设备，然后人工设置示波器的参数，实现通过示波器对显示屏进行测试。当示波器的参数调整后，则对显示屏发送电子束，进而显示屏上被描绘有电子束，显示屏进而发出传输信号至示波器，以在示波器中形成对应的波形，进而以波形呈现对应示波器参数下显示屏的测试参数。

s200、对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标。

具体地，根据需要测试的参数输入对应的传输信号给示波器，其中，示波器中预先存储有定制参数，所述定制参数通过matlab编写程序设置，通过选择对应的参数可以实现对示波器测试环境的调节，以适应测试不同项目的需求，而示波器通过不同参数的设置可以得到不同的波形。

之后对波形进行分析测量，并与对应的标准参数进行对比，可以对比两者之间参数值的差异，进而以参数值的差异区分合格品与不合格品，以完成对显示屏各个参数的测试，且得知各项参数是否合格。

在一具体实施例中，在所述步骤s100之前包括：

s11、通过示波器的串口控制红外发射装置发射红外码值，开启待测设备。

具体地，通过matlab在示波器系统上编写程序，可实现人工通过示波器设置usb串口的转接与驱动，实现通过usb串口控制红外发射装置发射红外码值，通过发射出的红外码值即可控制待测设备在待机状态下的开启与关闭，在开机状态下可进一步实现通过定制参数触发示波器进行波形采样；其中，开机指令测试上电时序，待机指令测试掉电时序。

进一步地，还可以通过调节红外码值设置待测设备的待机时间和开机时间。

在一具体实施例中，如图2所示，所述步骤s100之后包括：

s110、根据定制参数所属测试项目调用对应的接线图并显示，其中，所述测试项目包括时序测试和眼图测试。

s120、根据显示的接线图连接示波器与待测设备之间的电路。

具体地，本发明实施例中以电视机为例代表待测设备以用于举例，其中，电视机显示屏的测试项目包括时序测试和眼图测试，当然地，若待测设备不为电视机时，可根据待测设备显示屏的测试项目而更改示波器可测试的屏幕参数，此处仅用于举例说明。

其中，预先通过matlab编写程序，在示波器系统上创建定制设置，定制设置指电视机显示屏的时序测试和眼图测试，在时序测试和眼图测试的文件中分别存放有示波器与待测设备的接线图，当进行时序测试时，可根据时序测试的接线图连接示波器与待测设备之间的电路，当进行眼图测试时，可根据眼图测试的接线图连接示波器与待测设备之间的电路。

在一具体实施例中，在所述步骤s110之后还包括：

s130、示波器通过串口控制信号发生器发送模式切换信号至待测设备。

具体地，通过matlab编写测试软件，在进行眼图测试或时序测试，实现通过示波器传输对应的测试命令给信号发生器，使得信号发生器输出对应的信号供给电视机，进而实现电视机对应的性能启用，以方便示波器进行电视机显示屏参数获取。

其中，示波器上的usb接口通过人工控制能够实现串口的切换，进而实现切换到rs0232串口对信号发生器进行控制，其中，信号发生器可发送两种信号，包括：模式切换信号和定时信号，通过此两种信号可以控制电视对应参数的启用。

在一具体实施例中，如图3所示，所述步骤s100具体包括：

s101、设置示波器中的定制参数，将定制参数的参数值分别赋予示波器的衰减器、放大器和内存控制器。

s102、分别控制衰减器、放大器和内存控制器进行波形采样。

具体地，示波器系统端预先通过matlab编写测试软件脚本，实现以下步骤：

示波器通过识别定制设置中的参数，通过rs-232总线分别控制与定制参数对应的衰减器、放大器、触发电路、内存控制器和存储器等。

通过将定制参数的参数值分别赋予对应的衰减器、放大器、触发电路和内存控制器，并触发产生波形。

之后控制示波器将触发的波形存储在存储器中，并从存储器中调用波形进行分析运算；在预先设置的函数库中调用对应的函数对波形进行分析测量，并将分析数据保存在存储器中。将分析数据与系统中标准参数进行对比，进而根据对比结果生成分析报告。

当然地，在所述步骤s200之前包括：

具体地，在示波器系统预先上创建定制设置，以匹配各测试项目的定制参数、接线图及标准参数，并分别对存放于示波器系统的定制参数、接线图及标准参数进行标记。

在进行时序测试时，所述定制参数包括通道名称、通道抗阻参数、触发通道、触发电平、触发类型、时基、采样率和信号幅度等；在进行眼图测试时，所述定制参数为进行眼图测试的眼图参数。

其中，通道名称以测试项目的接线图进行命名，比如，vcc通道、lockn通道、data通道或blon/off通道；通道抗阻参数以dc1m欧姆或dc50欧姆表示，比如，vcc通道、lockn通道和blon/off通道的抗阻为dc1m欧姆，data通道的抗阻为dc50欧姆。

而其它的参数可以进行时序测试时参数设置方式进行举例予以说明，比如，触发通道为vcc通道触发、触发电平为10v、触发类型为边沿触发、时基为500ms/格、采样率为500ks/s、信号幅度(vcc通道为5v/格，lockn通道为2v/格，data通道为100mv/格，blon/off通道为2v/格)。

其中，在一具体实施例中，如图4所示，所述步骤s200具体包括：

s210、对示波器采集的波形进行数据分析与运算，并将分析出的数据与定制参数对应的标准参数进行对比。

具体地，预先在定制设置的定制参数中存储有标准参数，其中，时序测试的标准参数为不同显示屏传输的信号，眼图测试的标准参数为眼图模板。预先将时序测试中不同信号的标准以及眼图模板存储在示波器系统文件中，并作标记。

时序测试中包含的不同信号类型有：v-by-one、lvds、epi、minilvds、ceds等，比如，k自带t-con显示屏采用v-by-one信号；4k玻璃不带t-con的显示屏采用epi\ceds信号，其中，lgd显示屏采用epi信号，boe显示屏采用ceds信号；2k玻璃自带t-con显示屏采用lvds信号；2k不带t-con显示屏采用minilvds信号。

s220、判断与标准参数是否一致。

若与标准参数一致，执行步骤s330：

s230、则待测设备的显示屏测试合格。

具体地，在预设函数库中匹配与波形对应的函数进行波形分析，得到波形信号的时延测试值，与时序测试对应的标准参数进行对比，即与待测设备对应的信号进行对比，比较两者时延测试值的大小；或者对波形进行分析，与眼图测试对应的眼图模板进行对比，比较两者的差异大小。当测试结果与标准参数不符时，则说明测试结果不合格，产生不合格报告。

若与标准参数不一致，执行步骤s340：

s240、则待测设备的显示屏测试不合格。

s250、根据测试结果得到待测设备显示屏的性能指标，生成对应的测试报告并存储。

具体地，在示波器操作系统上通过matlab编写程序，实现文件名的输入和存储路径选择，以便于对待测试项目进行文件命名和存储路径的设置。

当进行测试时，通过调用对应的文件句柄以打开该文件，进而根据文件中定制参数的标识选择定制参数，以设置示波器。

其中，在文件i/o中，要从一个文件读取数据，应用程序首先要调用操作系统函数并传送文件名，并选一个到该文件的路径来打开文件。该函数取回一个顺序号，即文件句柄(filehandle)，该文件句柄对于打开的文件是唯一的识别依据。

当测试完成后，则根据文件句柄将分析报告以对应的路径存储。

本发明还公开一种示波器，如图5所示，其中，包括处理器，以及与所述处理器连接的存储器，所述存储器存储有显示屏测试方法的配置程序，所述显示屏测试方法的配置程序被所述处理器执行时实现如上所述的显示屏测试方法；具体如上所述。

进一步地，所述示波器包括如上所述的衰减器、放大器、触发电路、内存控制器和存储器等。

本发明还公开一种存储介质，其中，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序能够被执行以用于实现如上所述的显示屏测试方法；具体如上所述。

综上所述，本发明公开的一种显示屏测试方法、示波器及存储介质，其中，所述方法包括：设置示波器中的定制参数，并触发示波器对待测设备进行波形采样；对采集的波形进行数据分析，将分析的数据与定制参数对应的标准参数进行对比，得到待测设备显示屏的性能指标。通过设置示波器的测试参数，实现对显示屏的自动化测试，避免了手动测试屏参，缩减了测试时长，提高了屏参测试性能，保证了测试效率，缩短待测设备的研发周期，且所需成本低。

应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

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