一种反馈信号检测方法及像素外模拟域补偿显示系统与流程

本发明涉及光电技术领域，具体涉及一种反馈信号检测方法及像素外模拟域补偿显示系统。

背景技术：

现有技术中存在多种显示产品，例如amoled(有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体，active-matrixorganiclight-emittingdiode)是采用tft(薄膜晶体管，thinfilmtransistor)进行像素单元电路陈列并在其上增设oled(organiclight-emittingdiode或organicelectroluminesencedisplay，又称有机发光二极管、有机电激光显示或有机发光半导体)的显示屏。

oled-on-silicon或者qled-on-silicon类型的微显示产品是用硅做像素单元电路陈列，并在其上增设oled或者qled(量子点发光二极管t1，quantumdotlightemittingdiodes)发光器件。

tft、oled和qled等在发光之后都存在老化问题，例如，tft阈值电压上升导致输入同样的显示信号老化tft能给出的电流变小。当显示屏开始显示之后，老化tft的阈值电压或老化oled的阈值电压会发生飘移。oled阈值电压上升会导致oled电流减少。老化oled的发光效率降低，即同样的输入电流，老化oled能发出来的光减少。

除了老化问题，tft、oled和qled等还存在阈值电压不均匀的问题，例如在生产过程因为工艺原因会导致阈值电压不平均进而导致显示屏发光亮度不均匀。由于显示屏上像素单元陈列位置的不同，在显示屏发光时由于电流的流动会导致像素单元电源电压不平均，温度的不平均会导致驱动管电流不平均。各个通道源驱动模块的不平均会导致反馈的驱动电流不平均。

除此之外，所有像素系统的显示驱动芯片本身都存在不同驱动通道即驱动电路驱动不均匀的问题。

技术实现要素：

本发明提供一种反馈信号检测方法的像素外模拟域补偿显示系统，其包括m列驱动通道；每一列驱动通道包括像素单元和检测单元；检测单元包括源驱动模块和检测模块；检测模块包括比较器；系统为像素外补偿双数模转换器显示系统，源驱动模块内设置有第一数模转换器和第二数模转换器；源驱动模块通过显示信号线连接至像素单元；比较器的第一输入端通过反馈信号线连接至像素单元，用于接收像素单元的反馈信号所对应的反馈电压；其第二输入端连接至第二数模转换器，用于接收第二数模转换器输出的比较电压；比较器的输出端用于将反馈电压与比较电压进行比较所得的检测结果输出；其中，m为大于等于1的整数。

本发明还提供一种反馈信号检测方法，其应用于上述显示系统，其包括如下过程：

依次选通第1行至第n行像素单元的写入通道并在每一行像素单元的写入通道被选通时进行检测操作；

重复上述操作，再次选通第1行至第n行像素单元的写入通道并在每一行像素单元的写入通道被选通时进行检测操作；

检测操作的过程为：当第n行像素单元的写入通道被选通时，控制像素单元产生反馈电压并控制第二数模转换器输出比较电压，使得比较器的第一输入端接收反馈信号对应的反馈电压，并使得比较器的第二输入端接收比较电压；将反馈电压和比较电压进行比较；控制比较器将比较所得的检测结果通过移出电路反馈至老化信息记忆体。

本发明提供了反馈信号检测方法及像素外模拟域补偿显示系统，系统为像素外补偿双dac(digital-to-analogconverter，数模转换器)显示系统，利用像素外补偿显示系统的数模转换器和比较器进行搭配检测目标像素单元反馈的老化信息，即检测像素单元中发光器件阈值电压和驱动管阈值电压，可以对tft、oled和qled等器件做检测，进而实现器件老化、阈值电压不均匀和驱动不均匀等问题的分析，适用于amoled、oled-on-silicon、qled-on-silicon、pmoled(被动矩阵有机电激发光二极管，passivematrixoled)、lcd驱动芯片和oled照明驱动芯片等各种类型的产品，本发明还充分利用了显示系统中已有的模块，不会增加芯片面积，优化了显示系统的整体设计。

现有技术的缺点是只能利用补偿过的校正信号让像素单元反馈固定的预期电流，再在老化信息检测模块将该电流与参考电流做比较，再间接推算像素单元驱动管的老化程度。而本发明是通过重复使用已有的模块(即dac和比较器)，直接检测像素单元驱动管的阈值电压以及oled的阈值电压变化情况。

附图说明

图1为传统的外部补偿显示系统结构示意图；

图2为像素外补偿双dac显示系统的源驱动模块的显示用dac和补偿用dac的电阻串；

图3为电阻串256个参考电压进行伽马曲线校正示意图；

图4为适用于本发明的像素单元结构示意图；

图5为适用于本发明的像素单元结构示意图；

图6为传统的像素外补偿双dac显示系统布局示意图；

图7为实施例一的显示系统局部结构示意图；

图8为实施例二的显示系统局部结构示意图；

图9为本发明的检测操作流程示意图；

图10为反馈电压与比较电压进行比较示意图。

附图标记：控制器10、行扫描驱动器20、源驱动器30、显示面板40、时序控制模块11、补偿算法模块12、老化信息记忆体13、第一移入电路34、第二移入电路35、检测单元32、移出电路33、源驱动模块321、检测模块322、第一数模转换器61、第二数模转换器62、模拟加法器63、比较器72、电流源73、像素单元41、显示地址线42、反馈地址线43、显示信号线44、反馈信号线45、第二开关管q2、第三开关管q3、驱动管q1、发光二极管t1、第一电阻串81、第二电阻串82、电阻08、第一开关sw1、第二开关sw2。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本发明能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本发明相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本发明的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。

另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本发明所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。

本文中，n为大于等于1的整数，n为大于等于1小于等于n的整数；m为大于等于1的整数，m为大于等于1小于等于m的整数；k为大于0的自然数，k为大于0的自然数。

本技术领域中，对amoled显示系统做补偿的方案分为像素内补偿和像素外补偿(或者外部补偿)，像素外补偿方法分为实时补偿方法和非实时补偿方法，非实时补偿方法分为数字域补偿方法和模拟域补偿方法，本发明即采用模拟域补偿方法。

如图1所示为传统的外部补偿显示系统结构示意图，其包括控制器10、行扫描驱动器20、源驱动器30和显示面板40，控制器10连接至行扫描驱动器20和源驱动器30。控制器10包括依次连接的时序控制模块11、补偿算法模块12和老化信息记忆体13。源驱动器30包括第一移入电路34、第二移入电路35、移出电路33和m个检测单元32；检测单元32包括源驱动模块321和检测模块322；源驱动模块321包括第一数模转换器、第二数模转换器和模拟加法器，检测模块322包括比较器。

显示面板40包括n行、m列像素单元41，行扫描驱动器20引出n行显示地址线42和反馈地址线43；其中，第n行显示地址线42和反馈地址线43分别连接至第n行的各个像素单元41；行扫描驱动器20用于接收控制器10的行控制信号并依次通过第1行至第n行显示地址线选通第1行至第n行的各个像素单元的写入通道。第一行的像素单元的编号分别为[1,1]...[1,m]...[1,m]，第n行的像素单元的编号分别为[n,1]...[n,m]...[n,m]，第n行的像素单元的编号分别为[n,1]...[n,m]...[n,m]。

时序控制模块11、第一移入电路34和第m列第一数模转换器依次连接，补偿算法模块12、第二移入电路35和第m列第二数模转换器依次连接。第m列检测单元32的源驱动模块321连接至第m列显示信号线44进而分别连接至第m列的各个像素单元41。

第m列检测单元32中检测模块322通过第m列反馈信号线45分别连接至第m列的各个像素单元41，用于接收像素单元41的反馈信号所对应的反馈电压。本领域技术人员应当理解，第m列检测单元32中检测模块322也可以是用于接收像素单元41的反馈信号所对应反馈电流，同样能本发明的技术效果。

第m列检测单元32中检测模块322的输出端、移出电路33和老化信息记忆体13依次连接，从而，第m列检测模块322的输出端通过移出电路33将反馈电压与比较电压进行比较所得的检测结果通过移出电路33反馈至控制器10。

第m列检测单元32及第m列的像素单元41组成第m列驱动通道，则显示系统共分成m列驱动通道。

模拟域补偿方法，在控制器10里面的补偿算法只计算补偿值(数字补偿信号)，数字补偿信号和数字显示信号会一起从控制器10同步输入给源驱动器30，在源驱动器30里面使用2个dac分别把数字补偿信号和数字显示信号转换成模拟信号，再把2个模拟信号用模拟加法器相加得出补偿过的模拟显示信号并输出到显示信号线上，再写入像素单元。

每个通道中两个dac的位宽都可以比单dac显示系统的dac位宽小(例如2个dac都是8位，单个dac数字域补偿考虑需要实现gamma校正和预留电压空间给像素单元老化时使用，dac一般需要10位以上)。像素外补偿双dac显示系统与像素外补偿单dac显示系统的区别在于，双dac显示系统不会在控制器10把数字显示信号做完补偿变成10位补偿过的数字显示信号之后再输出给源驱动器30，而是分别把8位的数字显示信号和经过补偿算法算好的8位数字补偿信号同时并行输出给源驱动器30，而每列像素单元对应的源驱动模块里面有两个dac分别把数字显示信号和数字补偿信号转换成模拟显示信号(电压)和模拟补偿信号(电压)，之后再利用模拟加法器把模拟显示信号和模拟补偿信号相加变成补偿过的模拟显示信号输出到显示信号线上。

如图2所示，本技术领域中，像素外补偿双dac显示系统的源驱动模块321包括第一数模转换器61、第二数模转换器62和模拟加法器63，2个dac分别把数字显示信号和数字补偿信号转换成模拟信号(电压)再让模拟加法器相加成补偿过的模拟显示信号并输出到与该源驱动模块相连的显示信号线。每个源驱动模块都有两组各自256条参考电压信号线，一组参考电压是v_disp_0，v_disp_1...v_disp_255，代表给显示dac256个不同大小的参考电压，另一组参考电压是v_comp_0，v_comp_1...v_comp_255，代表给补偿dac256个不同大小的参考电压。每个源驱动模块里的dac只是单纯的解码电路，解码输入8位数字信号后再从256个电压里面选一个相对应的参考电压分配到输出端。这2组256条参考电压线是所有源驱动模块共享的，且来自2个电阻串即第一电阻串81和第二电阻串82，每组至少有255个电阻08，利用电阻分压在最高参考电压(v_high，比如4v)和最低参考电压(v_low，比如0v)之间分出256个不同的参考电压，第一电阻串81的最高参考电压为v_disp_high，最低参考电压为v_disp_low；第二电阻串82的最高参考电压为v_comp_high，最低参考电压为v_comp_low。数字显示信号为disp_m，数字补偿信号为comp_m。

图3显示了本技术领域中电阻串如何产生256个不同大小的参考电压以及如何进行伽马校正(gammacorrection)。其中，横轴(x轴)为dac输入的8位数字，从0到255；竖轴(y轴)为256个参考电压，每个参考电压对应每一个输入的8位数字。v_high为电阻串最高电压，v_low为电阻串最低电压。如果没有中间的4个gamma校正电压(v_gamma0、v_gamma1、v_gamma2和v_gamma3)，那么参考电压对应的8位输入数字将是一条直线(曲线l1)。每个步进(step)之间的电压差为

δv＝(v_high–v_low)/255(1)

如果中间插入4个gamma校正电压(v_gamma0、v_gamma1、v_gamma2和v_gamma3)到电阻串，就可以产生带gamma校正的曲线即曲线l2。中间插入4个gamma校正电压对应dac输入值为g0、g1、g2和g3。这4个gamma校正电压可以逼迫g0、g1、g2和g3对应输出参考电压v_gamma0、v_gamma1、v_gamma2和v_gamma3。

产生线行dac、拿掉gamma校正电压(v_gamma0、v_gamma1、v_gamma2和v_gamma3)的方法可以是让这些输出gamma校正电压的buffer(缓冲器)进入禁用状态，该状态可以让缓冲器输出为floating(悬空状态)。

v_gamma0插入到电阻串输出g0的节点，强迫该节点输出v_gamma0电压；v_gamma1插入到电阻串输出g1的节点，强迫该节点输出v_gamma1电压；v_gamma2插入到电阻串输出g2的节点，强迫该节点输出v_gamma2这个电压；v_gamma3插入到电阻串输出g3的节点，强迫该节点输出v_gamma3这个电压。

像素单元组成阵列，适用于像素外补偿显示系统的像素单元都需要具备反馈通道，需要把像素单元内的老化信息反馈到源驱动器30内的老化信号检测模块做老化检测。

行扫描驱动器20分别发出行扫描信号到显示地址线(对应显示地址信号)和反馈地址线(对应反馈地址信号)上。当显示地址信号有效时，就会与该显示地址线相连的某行的像素电路导通，把显示信号线上的信号(例如校正信号或者是补偿过的模拟显示信号)写入与其相连的像素单元里。当反馈地址信号有效时，就能导通像素单元的反馈通道，把像素单元的老化或者阈值电压不平均的信息以电流或者电压的形式输送到反馈信号线。

老化信号检测模块的作用是检测从像素单元反馈的老化信号与预期的老化程度是否有偏差。检测结果则为一位的数字，代表预期的老化程度偏低或者偏高，该检测结果会通过移出电路输出给控制器10，再更新老化信息记忆体。

由于需要把像素单元内的老化信息传递到反馈信号线，故像素单元电路具有反馈通道输出端口和反馈通道的控制输入端口，比如图4的第三开关管(q3)形成反馈通道连接像素单元与反馈信号线。

控制器10里除了具备传统显示系统的时序控制模块(timingcontroller)控制源驱动器30和行扫描驱动器20时序逐行选通像素单元写入显示信号的功能，还包括老化信息记忆体，根据老化信息，每个像素单元都可以被进行各种老化补偿，利用补偿算法计算每个像素单元的数字补偿值。另外控制器10也会从源驱动器30接收像素单元反馈电压的检测结果。

像素外补偿的显示系统可进行两种操作，显示操作和校正反馈检测操作。显示操作一般与传统显示系统一样。校正反馈检测操作具体实施细节需要与整个像素外补偿显示系统的设计相配合。校正反馈检测操作可以在显示系统没有进行显示操作时进行。比如显示系统上电之后显示屏还没有开始显示画面之前，显示屏关闭之后还有电源供应时，或者帧与帧之前的空白时期，或者特意安排一段时期不进行显示操作而专门进行校正反馈检测操作。

校正反馈检测操作中，通过行扫描驱动器20选通指定行像素单元(或者某行的部分像素单元)的显示信号写入通道，再通过显示信号线写入校正信号，校正信号可以来自控制器10或者源驱动器30，或者在本地同通道的源驱动器30产生，在写入校正信号之后，行扫描驱动器20随即选通该行像素单元的反馈通道，检测模块检测到的老化信息检测结果被平行锁存，之后就通过移出电路串行输出给控制器10，再更新老化信息记忆体。

本发明中，像素单元41包括第二开关管q2、驱动管q1、第三开关管q3和发光二极管t1。第n行、第m列的像素单元41中的第二开关管q2连接至第n行的显示地址线42和第m列的显示信号线44；第二开关管q2、驱动管q1和第三开关管q3依次连接；发光二极管t1连接于驱动管q1和第三开关管q3之间；第n行、第m列的像素单元41中的第三开关管q3连接至第n行的反馈地址线43和第m列的反馈信号线45。

具体地，如图4所示为本发明一种可选的像素单元41，其包括第二开关管q2、驱动管q1、第三开关管q3和发光二极管t1；其中，第二开关管q2、驱动管q1、第三开关管q3为n型管。第n行、第m列的像素单元41中，第二开关管q2的栅极连接至第n行的显示地址线42，其第一极连接至第m列的显示信号线44，其第二极连接至驱动管q1的栅极。驱动管q1的第一极连接至其工作电压端vdd_oled，其第二极连接至发光二极管t1的正极和第三开关管q3的第一极；显示面板的工作电压与源驱动器30或行扫描驱动器20的工作电压可以不同。发光二极管t1的负极连接至其接地端。第三开关管q3的栅极连接至第n行的反馈地址线43，其第二极连接至第m列的反馈信号线45。

如图5所示为本发明另一种可选的像素单元41，其包括第二开关管q2、驱动管q1、第三开关管q3和发光二极管t1；其中，第二开关管q2、驱动管q1、第三开关管q3为p型管。第n行、第m列的像素单元41中的第二开关管q2的栅极连接至第n行的显示地址线42，其第一极连接至第m列的显示信号线44，其第二极连接至驱动管q1的栅极。驱动管q1的第一极连接至发光二极管t1的负极和第三开关管q3的第一极，其第二极连接至其接地端。发光二极管t1的正极连接至其工作电压端vdd_oled。第三开关管q3的栅极连接至第n行的反馈地址线43，其第二极连接至第m列的反馈信号线45。

本领域技术人员可以根据实际情况选用具体的驱动管q1、第二开关管q2和第三开关管q3的类型，驱动管q1、第二开关管q2和第三开关管q3例如可以为非晶硅、多晶硅、氧化物半导体、有机半导体、薄膜工艺、nmos工艺、pmos工艺或cmos工艺所制备的晶体管。当选定了驱动管q1、第二开关管q2和第三开关管q3的具体类型后，只需将三者的连接关系做适应性调整即可构成常规的显示面板电路结构，且将某个种类的晶体管替换本发明的驱动管q1、第二开关管q2和第三开关管q3并设计出显示面板也是本领域的常规技术手段，即利用其它类型的晶体管设计出显示面板的电路同样落入本发明的保护范围。

本领域技术人员在具体电路结构的设计过程中，可以将晶体管的源极作为第一极，将漏极作为第二极；或者，也可以将晶体管的漏极作为第一极，将源极作为第二极。

本领域技术人员应当理解，本发明中，“反馈信号”可以指下文的“反馈电压”，也可以指“反馈信息”。以下实施例中，反馈信息、反馈信号以及反馈电压可以体现器件的老化信息或老化状况。

本发明的显示系统为像素外补偿双dac显示系统，或者称为像素外补偿amoled显示系统。

本发明中检测单元32的比较器采用电压比较器，检测模块322为检测老化信息的模块。

发光器件为发光二极管，可以是有机发光二极管即oled，或者量子点发光二极管即qled，或者一般类型及其他各种类型的led(light-emittingdiode)。

老化信息记忆体13可存储各种老化信息。

实施例一：

图6为传统的像素外补偿双dac显示系统的结构示意图，源驱动器里面共有m个源驱动模块321，每个源驱动模块321包括2个dac即第一数模转换器61和第二数模转换器62，第一数模转换器61和第二数模转换器62分别连接至第一移入电路34和第二移入电路35。传统像素外补偿双dac显示系统显示操作时，第一数模转换器61用来转换8位的数字显示信号disp_n_m，第二数模转换器62用来转换8位的数字补偿信号comp_n_m。disp_n_m代表第n行第m列的像素单元的显示信号，comp_n_m代表第n行第m列的像素单元的补偿信号。2个dac分别把数字显示信号和数字补偿信号转换成模拟显示信号(电压)和模拟补偿信号(电压)再经模拟加法器63相加之后成模拟补偿过的显示信号输出到第m列像素单元的显示信号线。模拟补偿过的显示信号写入被扫描驱动器选通的第n行、第m列的像素单元。

传统像素外补偿双dac显示系统校正反馈检测操作时，如果要检测像素单元驱动管q1的老化，会先通过显示操作写入补偿过的显示信号1到目标行的像素单元。之后导通该行像素单元的反馈通道，检测模块322会把反馈信号线固定在一个低电压(比如0.8v)，该低电压会低于oled的阈值电压，保证oled会截止导通，所有驱动管q1的电流都会经过反馈信号线流到检测模块322，从而与参考电流做比较。该参考电流是写入补偿过的显示信号为1时，预期像素单元41的驱动管q1输出的电流，也是流到oled的电流，假设此该预期电流为10na。电流比较结果为1位的数字信号会通过移出电路33输出到控制器，更新控制器老化信息记忆体里的老化数据。

现有设计的校正信号经过补偿之后，驱动管q1会反馈10na的驱动电流。如果不是，则通过比较结果调整数字校正信号，让驱动管q1反馈10na的电流。现有设计在检测方面存在缺陷，检测模块322只能与一个或者几个(有限数量)固定的参考信号(电压或者电流)做比较，这样的话是无法直接检测oled和驱动管q1的阈值电压，因为oled和驱动管q1老化之后，他们的阈值电压不是固定的，而且不能通过调整补偿信号改变反馈到检测模块322的阈值电压贴近参考电压。

如图1和图7所示，本实施例在如图6所示的传统外部补偿显示系统的基础上做了改进，本实施例的反馈信号检测方法的显示系统采用图4所示的像素单元，检测模块322还包括电流源73，第m列检测模块322的电流源73通过第m列反馈信号线45分别连接至第m列的各个像素单元41。第m列源驱动模块321内，第一数模转换器61连接至模拟加法器63，模拟加法器63通过显示信号线44连接至第m列驱动通道的像素单元41。根据图7而设计的显示系统可以检测oled阈值电压。

第m列检测模块322中比较器72的正输入端连接第m列反馈信号线45和电流源73，比较器72的负输入端连接至第m列源驱动模块321的第二数模转换器62。

当发光二极管t1开始发光之后出现老化现象，发光二极管t1的阈值电压就会向更高值漂移。为检测发光二极管t1阈值电压，本实施例的检测方法首先要将2个dac可以选择都配置成同样的线性dac，配置方法之一是禁用2个电阻串的所有gamma电压；或者采用选择器把补偿dac(即第二数模转换器，假设该dac已经是线性)电阻串的256个输出电压拷贝到显示电阻串的输出端，并需要先禁用本来显示电阻串的输出，即令

v_disp_0＝v_comp_0

v_disp_1＝v_comp_1

…

v_disp_255＝v_comp_255。

本实施例的反馈信号检测方法用于检测发光二极管t1阈值电压，包括如下过程：

过程一：依次选通第1行至第n行像素单元的写入通道并在每一行像素单元的写入通道被选通时进行检测操作；

对于第n行像素单元，如图9所示，检测操作的过程具体为：

st1、行扫描驱动器20选通第n行像素单元的写入通道。

st2、控制像素单元41产生反馈电压并控制第二数模转换器62输出比较电压。

具体地，闭合第一开关sw1并断开第二开关sw2，控制第m列的驱动管截止导通；断开显示信号线与模拟加法器输出端的连接，由低电源v1输入0v到显示信号线，从而截止导通驱动管q1，模拟加法器63、第一数模转换器61和第二数模转换器62闲置。

将信息记忆体13存储的之前检测第n行、第m列像素单元41所得到的发光二极管阈值电压的结果输出至第m列的第二数模转换器62，使得第m列的第二数模转换器62将该结果转换成电压信号。

电流源73输出预设的小电流通过反馈通道传输至第n行、第m列的发光二极管t1，该小电流例如可以是10na。由于电流较小，待反馈信号线稳定之后，可以认为反馈信号线上的电压等于发光二极管的阈值电压。

行扫描驱动器20选通第n行像素单元41的反馈通道。

得到的比较电压为第m列第二数模转换器62转换所得的电压，得到的第n行、第m列的像素单元41的反馈电压为第m列反馈信号线45上的电压。

st3、比较器72将反馈电压和比较电压进行比较。

st4、比较器72将比较所得的检测结果通过移出电路33反馈至老化信息记忆体13，老化信息记忆体13存储检测结果并更新数据。

过程二：重复进行过程一，随着过程一被不断重复，在越往后的运作中，数模转换器51的输入值将稳定地在k与k+1之间跳动，则可以确定反馈电压与比较电压进行比较所得的最终结果。

本领域技术人员应当理解，过程一可以不断被重复执行。

实施例二：

如图1和图8所示，本实施例在如图6所示的传统外部补偿显示系统的基础上做了改进，将原本连接至模拟加法器63的第一数模转换器61和第二数模转换器62分别连接至显示信号线44和比较器72，本实施例的反馈信号检测方法的显示系统采用图4所示的像素单元；第m列源驱动模块321内，第一数模转换器61通过显示信号线44连接至第m列驱动通道的像素单元41。源驱动模块321内的模拟加法器63闲置。(加，另一种设计是加法器左边输入端口还是连61的输出，右边输入端口连0v电压，这样加法器的输出电压就是61的输出电压。这效果是与把61的输出直接连到显示信号线是一样的)。根据图8而设计的显示系统可以检测驱动管q1阈值电压。

第m列检测模块322中比较器72的正输入端连接第m列反馈信号线45，比较器72的负输入端连接至第m列检测单元32的第二数模转换器62。

为检测驱动管q1阈值电压，本实施例的方法首先要将2个dac都配置成同样的线性dac，配置方法之一是禁用2个电阻串的所有gamma电压；或者采用选择器把补偿dac(即第二数模转换器)电阻串的256个输出电压拷贝到显示电阻串的输出端，并需要先禁用本来显示电阻串的输出，即令

v_disp_0＝v_comp_0

v_disp_1＝v_comp_1

…

v_disp_255＝v_comp_255。

本实施例的反馈信号检测方法用于检测驱动管q1阈值电压，包括如下过程：

过程一：依次选通第1行至第n行像素单元的写入通道并在每一行像素单元的写入通道被选通时进行检测操作；

对于第n行像素单元，如图9所示，检测操作的过程具体为：

st1、行扫描驱动器20选通第n行像素单元的写入通道。

st2、控制像素单元产生反馈电压并控制第二数模转换器输出比较电压。

具体地，将信息记忆体13存储的之前检测第n行、第m列像素单元41所得到的驱动管源极电压vs的结果通过第二移入电路35输出至第m列的第二数模转换器62；第m列的第二数模转换器62用于将该结果转换成电压信号。

输出第二预设显示信号至第m列显示信号线，从而导通第n行、第m列像素单元41的驱动管q1和发光二极管t1。第二预设显示信号为较大的固定值，比如255。

行扫描驱动器20选通第n行像素单元41的反馈通道。

驱动管q1的阈值电压等于栅极电压vg减去源极电压vs。栅极电压vg对应的8位dac的数字信号可以是255，源极电压vs对应的8位dac的数字信号就是老化记忆体储存着的其中一种数据。

得到的第n行、第m列的像素单元41的反馈电压为第m列反馈信号线45上的电压即驱动管q1源极电压，得到的比较电压为第m列的第二数模转换器62转换所得的电压。

st3、比较器72将反馈电压和比较电压进行比较。

st4、比较器72将比较所得的检测结果通过移出电路33反馈至老化信息记忆体13，老化信息记忆体13存储检测结果并更新数据。

过程二：重复进行过程一，随着过程一被不断重复，在越往后的运作中，数模转换器51的输入值将稳定地在k与k+1之间跳动，则可以确定反馈电压与比较电压进行比较所得的最终结果。

本领域技术人员应当理解，过程一可以不断被重复执行。

如图9所示为本发明的反馈信号检测操作流程示意图，该图适用于表述实施例一和实施例二中显示系统的检测操作，实施例一和实施例二的方法的主要区别在于st2过程。为便于叙述分析，本文中的检测操作均针对第n行、第m列的像素单元，将第n行、第m列的像素单元作为目标像素单元。st1过程和st2过程可以同时进行。

本发明的反馈信号检测方法包括如下过程：

过程一：依次选通第1行至第n行像素单元的写入通道并在每一行像素单元的写入通道被选通时进行检测操作；

对于第n行像素单元，检测操作的过程具体为：

st1、选通第n行像素单元的写入通道；

st2、控制像素单元产生反馈电压以及控制参考用数模转换器输出比较电压，使得比较器的第一输入端接收反馈电压，并使得比较器的第二输入端接收比较电压；

st3、将反馈电压和比较电压进行比较；

st4、控制比较器将比较所得的检测结果通过移出电路反馈至老化信息记忆体；

过程二：重复进行过程一，随着过程一被不断重复，在越往后的运作中，数模转换器51的输入值将稳定地在k与k+1之间跳动。本领域技术人员应当理解，过程一可以不断被重复执行。

本发明中，可以将比较器72的正输入端设定为第一输入端，将负输入端设定为第二输入端。则st3将反馈电压和比较电压进行比较的过程为：

当行扫描驱动器20进行第一轮扫描中选通第n行各个像素单元的写入通道时，比较器72将比较电压与反馈电压进行比较；

若第一轮扫描中比较器72将比较电压与反馈电压进行比较所输出的结果为1，则当行扫描驱动器20进行第二轮扫描中第n行写入通道再次被选通时，控制比较电压增加预设值k；若第一轮扫描中比较器72将比较电压与反馈电压进行比较所输出的结果为0，则当当行扫描驱动器20进行第二轮扫描中第n行写入通道再次被选通时，控制比较电压减小预设值k；

当行扫描驱动器20进行某一轮扫描中比较器72将比较电压与反馈电压进行比较所输出的结果首次发生翻转后，若首次翻转为1变0，则当第n行写入通道下一次被选通时，控制比较电压减小1；若首次翻转为0变1，则当第n行写入通道下一次被选通时，控制比较电压增加1；

行扫描驱动器20继续重复对第1行至第n行像素单元进行多轮的扫描选通，当第n行写入通道再次被选通时，若上一次比较的结果为1，则本次控制比较电压增加1；若上一次比较的结果为0，则本次控制比较电压减小1；

行扫描驱动器20继续重复对第1行至第n行像素单元进行多轮的扫描选通，直至第n行写入通道后续被选通时，反馈电压与取值为k+1的比较电压进行比较所输出的结果为0且反馈电压与取值为k的比较电压进行比较所输出的结果为1，则将k与k+1之间的某一数值作为最终结果。例如，可以将k与k+1之间的中间值、平均值、数值k或数值k+1作为检测结果，平均值的求解包括计算算数平均值或几何平均值等运算方案。“将k与k+1之间的某一数值作为最终结果”这一操作可以由时序控制模块11执行，也可以由技术人员来决定。

例如，如图10所示，显示系统采用图4所示的像素单元，比较电压为dac输入值，首先dac输入端先选一个值，假设从数值0开始，之后经过dac转换成数值0对应的模拟信号(电压)输出到比较器72的负输入端，比较器72的正输入端输入需要检测的信号(即反馈电压)。如果结果为0，说明dac选出来的电压偏高，不过此时dac的输入已经为0不能再低，则说明输入需要检测的电压超出可检测的范围。如果为1，说明dac选出来的电压不够，在下一轮比较时需要把dac的输入值加k。此处k是不为0的整数，例如1。如果在下一轮比较结果还是1的话，则将dac输入值再往上提，直至比较器72的输出为0，说明dac所选的输入值对应的电压已经超过比较器正端输入的被检测信号，此时为首次翻转。

如图10所示，dac值从0开始，最终所达到的状态应该是：当dac值升到k+1之后比较器72的输出结果为0，表示dac选出来的电压比被比较的电压大，之后在下次比较时就会把dac选出来的电压值减1；当dac值降到k之后比较器72的输出结果为1，表示dac选出来的电压比被比较的电压小，之后在下次比较时就会把dac选出来的电压值加1；如此循环，达到稳定。最后整个dac的输入值就会稳定得在k和k+1之间跳动，说明被比较的电压是在k和k+1对应的电压之间。

或者，本领域技术人员根据电路设计的实际需要，还可以将比较器72的负输入端设定为第一输入端，将正输入端设定为第二输入端。则，st3将反馈电压和比较电压进行比较的过程为：

当行扫描驱动器20进行第一轮扫描中选通第n行各个像素单元的写入通道时，比较器72将比较电压与反馈电压进行比较；

若第一轮扫描中比较器72将比较电压与反馈电压进行比较所输出的结果为0，则当行扫描驱动器20进行第二轮扫描中第n行写入通道再次被选通时，控制比较电压增加预设值k；若第一轮扫描中比较器72将比较电压与反馈电压进行比较所输出的结果为1，则当行扫描驱动器20进行第二轮扫描中第n行写入通道再次被选通时，控制比较电压减小预设值k；

当行扫描驱动器20进行某一轮扫描中比较器72将比较电压与反馈电压进行比较所输出的结果首次发生翻转后，若首次翻转为0变1，则当第n行写入通道下一次被选通时，控制比较电压减小1；若首次翻转为1变0，则当第n行写入通道下一次被选通时，控制比较电压增加1；

行扫描驱动器20继续重复对第1行至第n行像素单元进行多轮的扫描选通，当第n行写入通道再次被选通时，若上一次比较的结果为0，则本次控制比较电压增加1；若上一次比较的结果为1，则本次控制比较电压减小1；

行扫描驱动器20继续重复对第1行至第n行像素单元进行多轮的扫描选通，直至第n行写入通道后续被选通时，反馈电压与取值为k+1的比较电压进行比较所输出的结果为1且反馈电压与取值为k的比较电压进行比较所输出的结果为0，则将k与k+1之间的某一数值作为最终结果。例如，可以将k与k+1之间的中间值、平均值、数值k或数值k+1作为检测结果，平均值的求解包括计算算数平均值或几何平均值等运算方案。

本发明提供了反馈信号检测方法及像素外模拟域补偿显示系统，系统为像素外补偿双dac显示系统，利用像素外补偿显示系统的数模转换器和比较器进行搭配检测目标像素单元反馈的老化信息，具体即检测像素单元中发光器件阈值电压和驱动管阈值电压，可以对tft、oled和qled等器件做检测，进而实现器件老化、阈值电压不均匀和驱动不均匀等问题的分析，适用于amoled、oled-on-silicon、qled-on-silicon、pmoled、lcd驱动芯片和oled照明驱动芯片等各种类型的产品，本发明还充分利用了显示系统中已有的模块，不会增加芯片面积，优化了显示系统的整体设计。

现有技术的缺点是只能利用补偿过的校正信号让像素单元反馈固定的预期电流，再在老化信息检测模块将该电流与参考电流做比较，再间接推算像素单元驱动管的老化程度。而本发明是通过重复使用已有的模块(即dac和比较器)，直接检测像素单元驱动管的阈值电压以及oled的阈值电压变化情况。

以上应用了具体个例对本发明进行阐述，只是用于帮助理解本发明，并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员，依据本发明的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。

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