显示驱动芯片、显示驱动膜上芯片封装结构及显示模块的制作方法

本发明涉及显示驱动技术领域，尤其涉及一种显示驱动芯片、具有该显示驱动芯片的显示驱动膜上芯片封装结构、及具有该显示驱动膜上芯片封装结构显示模块。

背景技术：

随着显示技术发展，人们对lcd/oled显示屏的外观要求越来越高。其中为了追求极致的显示体验，各lcd/oled屏生产厂家都在致力于高分辨率产品研发，随着显示屏的分辨率的提高，显示屏上的绑定引脚数量也越来越多，绑定引脚间的pitch也越来越小，如何确保显示屏的高分辨率，同时确保引脚的绑定质量可靠性是一个值得研究的课题。

当前生产过程中，常用的方法主要通过测量绑定引脚的电阻值，来判断与监控绑定引脚的质量，请参照图2所示，为现有技术中的显示驱动模组的结构示意图，其中包括驱动芯片1以及绑定至显示屏4的柔性电路板2，为了对绑定垫6的电阻值进行量测，需要在驱动组件3上预留与绑定垫6电性连接的测试点5，并通过测试工具或制作测试治具连接测试点5，以量测绑定垫6的电阻值，且预留测试点5需要一定的空间进行排布，还需要依据不同的产品型号制作不同尺寸的测试治具进行量测，既增加了制作时间，亦提高了制作成本，不利于产品的轻薄化。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种显示驱动芯片、显示驱动膜上芯片封装结构及显示模块，能够解决现有技术中，由于测试绑定垫的质量可靠性需要对绑定电阻值进行测试，进而需要在柔性电路板上设置测试点，并制作测试治具进行量测，导致工艺时间和工艺成本的增加，以及不利于产品轻薄化的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种显示驱动芯片，所述显示驱动芯片包括电阻测试电路及多个第一绑定垫；

所述电阻测试电路包括：

电桥模块，用以测量电阻并输出量测讯息，其中所述电桥模块包含一调节电阻与一比较器；

调节模块，电连接至所述电桥模块用以输出控制讯号控制所述调节电阻调节电阻值；以及

选择模块，电连接至所述电桥模块与至少两个所述第一绑定垫，用以选择性导通所述至少两个第一绑定垫与所述电桥模块。

在本发明的一种实施例中，所述显示驱动芯片包括读取模块，电连接至所述电桥模块及所述调节模块，用以接收所述比较器的所述量测讯息并向所述调节模块输出停止讯号以使所述调节模块停止输出所述控制讯号并产生一量测电阻值。

在本发明的一种实施例中，所述调节模块与至少两个所述第一绑定垫电连接，分别用以接收外部调节讯号及输出所述量测电阻值。

在本发明的一种实施例中，所述电桥模块与一个所述第一绑定垫电连接，用以输出所述量测讯息。

在本发明的一种实施例中，所述选择模块还与另一所述第一绑定垫电连接，用以接收外部选择讯号。

根据本发明的上述目的，提供一种显示驱动膜上芯片封装结构，包含显示驱动芯片以及柔性电路板，所述显示驱动芯片绑定于所述柔性电路板上，其中，所述柔性电路板包含柔性基板，设于所述柔性基板上的多条走线及设于每一所述走线两端的多个第二绑定垫，所述多个第一绑定垫与所述多条走线其中一端的所述多个第二绑定垫之间分别以导电绑定材料一一对应绑定。

在本发明的一种实施例中，至少两个所述第二绑定垫分别对应于与所述电桥模块选择性导通的所述至少两个第一绑定垫，且所述至少两个第二绑定垫彼此以走线电连接。

在本发明的一种实施例中，用于电阻测量的所述第一绑定垫为两两一组，所述选择模块电连接至至少两组所述第一绑定垫。

根据本发明的上述目的，提供一种显示模块，包含显示驱动膜上芯片封装结构、显示面板以及时序控制电路板，所述时序控制电路板包含基板，设于所述基板上的走线及设于走线末端的多个第三绑定垫，所述多个第二绑定垫与所述多个第三绑定垫之间分别以导电绑定材料一一对应绑定。

在本发明的一种实施例中，至少两个所述第二绑定垫分别对应于与所述电桥模块选择性导通的所述至少两个第一绑定垫，至少两个所述第三绑定垫分别对应于与所述电桥模块选择性导通的所述至少两个第二绑定垫，且所述至少两个第三绑定垫彼此以走线电连接。

本发明的有益效果：本发明通过在显示驱动芯片中设置一电阻测试电路，可以快速量测显示驱动芯片和/或柔性电路板上的绑定垫的电阻值，且不需要设置大量的测试点即可测试绑定垫的质量可靠性，可以提供更多的有效布线空间，减少了生产过程中的测试工具或治具的投入，节省了工艺时间、工艺成本和空间，提高了绑定垫的电阻测试效率，且设置电阻测试电路对显示驱动芯片的尺寸几乎没有影响，还可以减少柔性电路板上的布线面积，有利于产品的轻薄化。

附图说明

下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果清楚呈现。

图1为本发明实施例提供的显示模块结构示意图。

图2为现有的显示模块结构示意图。

图3为本发明实施例提供的一种显示模块局部结构示意图。

图4为本发明实施例提供的另一种显示模块局部结构示意图。

图5为本发明实施例提供的一种电阻测试电路结构示意图。

图6为本发明实施例提供的另一种电阻测试电路结构示意图。

图7为本发明实施例提供的显示模块截面结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

本发明实施例提供一种显示驱动芯片，请参照图1、图3以及图5所示，所述显示驱动芯片10包括电阻测试电路20及多个第一绑定垫101；所述电阻测试电路20包括：电桥模块201，用以测量电阻并输出量测讯息，其中所述电桥模块201包含一调节电阻rt与一比较器2011；调节模块203，电连接至所述电桥模块201用以输出控制讯号控制所述调节电阻rt调节电阻值；以及选择模块202，电连接至所述电桥模块201与至少两个所述第一绑定垫101，用以选择性导通所述至少两个第一绑定垫101与所述电桥模块201。

在实施应用过程中，本发明实施例提供的驱动芯片，通过在其上设置电阻测试电路，可以量测驱动芯片及其他驱动组件上的绑定垫的电阻值，且不需要设置大量的测试点即可测试绑定垫的质量可靠性，可以提供更多的有效布线空间，有利于产品的轻薄化，且减少了生产过程中测试工具或治具的投入，节省了工艺时间和工艺成本，提高了绑定垫的电阻测试效率。

在本发明的一种实施例中，请参照图1、图3以及图5所示，所述电阻测试电路20包括电桥模块201、与所述电桥模块201电连接的选择模块202、以及与所述电桥模块201以及与所述选择模块202电连接的调节模块203，其中，所述电桥模块201内设置有一调节电阻rt以及一比较器2011，在所述电阻测试电路20进行测试工作时，所述选择模块202导通至少两个第一绑定垫101与所述电阻测试电路20，其中，与至少两个第一绑定垫101绑定的两个第二绑定垫102彼此间已有走线连接可形成回路，然后所述调节模块203输出控制讯号，以控制所述调节电阻进行电阻值的调节，需要说明的是，所述电阻值的调节不限于从高到低或从低到高的过程，且所述调节电阻rt的电阻范围可通过根据实际测试绑定引脚的电阻值，建立数据库，选择合适的电阻范围，所述调节电阻rt的调节精度决定所述电阻测试电路101的测试精度，具体可根据实际进行选择，在此不作限定。

具体地，下面结合图5详述本实施例电阻测试电路的工作原理，且图5为本实施例提供的一种电阻测试电路结构示意图，其中，所述电桥模块201包括并联的第一线路以及第二线路，其中，所述第一线路包括调节电阻rt、与所述调节电阻rt电连接的第一电阻r1以及位于所述第一电阻r1与所述调节电阻rt之间的第一节点s1，所述第二线路包括第二电阻r2、彼此隔断的第一测试端k1和第二测试端k2，其中，所述第一测试端k1与所述第二电阻r2电连接，且所述第二线路还包括位于所述第二电阻r2与所述第一测试端k1之间的第二节点s2，所述第二线路藉由所述第一测试端k1与所述第二测试端k2隔断，在本实施例中，可限定所述第一电阻r1与所述第二电阻r2的电阻值相等，以便于后续计算的便捷性，且所述电桥模块201的两端可分别连接电源vdd和接地vss，其中，电源vdd电压可为1.2v、1.8v或3.3v等，在此不作限定。

所述电桥模块201还包括比较器2011，所述比较器2011分别与所述第一节点s1以及所述第二节点s2电连接，以获取所述第一节点s1以及所述第二节点s2的电参数，且所述电参数包括电位、电流或电容，在本实施例中，所述电参数以电位为例，以作说明。

另外，请参照图3以及图5所示，所述电桥模块201还与一个所述第一绑定垫101电连接，用以输出所述量测讯息，具体为所述比较器2011电连接至一所述第一绑定垫101，所述比较器2011获取所述第一节点s1与所述第二节点s2的电位，并进行比较，通过与所述比较器2011电连接的所述第一绑定垫101进行量测讯息的输出。

具体地，当所述电阻测试电路20进行工作时，所述选择模块202将两个所述第一绑定垫101a、101b分别与所述第一测试端k1、所述第二测试端k2进行电连接，需要说明的是，所述选择模块202可通过转换开关、晶体管开关或其他可行方式进行所述第一绑定垫101与所述第一测试端k1、所述第二测试端k2的连接，以将所述第一绑定垫101a与所述第一绑定垫101b接入所示电阻测试电路20中，然后所述调节模块203输出控制讯号控制所述调节电阻rt调节电阻值，由于所述第一线路与所述第二线路并联，则当所述第一节点s1与所述第二节点s2的电位相等时，所述第一线路上的电阻值与所述第二线路上的电阻值相等，此时，可通过所述调节模块203控制所述调节电阻rt停止电阻值的调节，所述比较器2011将所述量测讯息通过所述第一绑定点101进行输出以使用户获得所述量测讯息，且所述比较器2011需要对所述第一节点s1的电位与所述第二节点s2的电位进行比较，当两者相等时，或将两者相减，当数值为0时，所述比较器2011输出量测讯息，具体地，所述比较器2011例如为差动放大器，所述第一节点s1的电位与所述第二节点s2的电位相等时，所述比较器2011输出低电平，用户获得低电平量测讯息即可知道此时所述调节模块203上保留的调节电阻值，即是所述调节电阻rt当前的电阻值且等于所述第一绑定垫101a的电阻值与所述第一绑定垫101b的电阻值相加，具体地，所述调节模块203具有记忆组件，可用于记忆当前的调节电阻值及电阻值的调节范围值。

需要说明的是，可以设置所述显示驱动芯片10上的所有所述第一绑定垫101的电阻值均相等，则所述第一绑定垫101a的电阻值等于所述第二绑定垫101b的电阻值，等于所述调节电阻rt的电阻值的二分之一，其中，所述第一绑定垫101a、101b可为所述显示驱动芯片10上的任一需要进行电阻测试的绑定垫，在此仅用以说明电阻测试电路20的运作方式，本发明实施例对所述第一绑定垫101的位置不作限定。

在本发明实施例中，需要进行电阻测试的所述第一绑定垫101为两两一组，且所述选择模块202电连接至至少两组所述第一绑定垫101，另外，请参照图3所示，所述选择模块202还与另一所述第一绑定垫101电连接，用以接收外部选择讯号，以便于用户输入信息控制所述选择模块202进行选择并连接需要进行量测的绑定垫，所述调节模块203也可电连接至一所述第一绑定垫101，用以接收外部调节讯号，以便于用户进行所述调节电阻rt的电阻值的调节和把控。

综上所述，本实施例通过在显示驱动芯片上设置电阻测试电路，可以对需要进行电阻测试的绑定垫进行连接并量测，且可以快速得到绑定垫的电阻值，以测试出该绑定垫的质量可靠性，无需额外设置测试点以及制作测试治具，节省了布线空间以及工艺成本、工艺时间，有利于产品的轻薄化，且提高了绑定垫电阻测试的效率。

在本发明的另一种实施例中，请参照图1、图4以及图6所示，其与上述实施例的区别之处在于：所述电阻测试电路20还包括读取模块204，且所述读取模块204还与所述电桥模块201及所述调节模块203电连接，即所述读取模块204与所述比较器2011电连接，用以接收所述比较器2011的所述量测讯息并向所述调节模块203输出停止讯号以使所述调节模块203停止输出所述控制讯号，此时所述调节模块203产生一量测电阻值，即所述调节模块203上保留当前调节电阻值，其中，在其他的实施例中，所述调节模块203还可与至少两个所述第一绑定垫101电连接，分别用以接收外部调节讯号以设定调节电阻rt的电阻调节范围以及输出所述量测电阻值，使电路的设计更具有弹性，具体地，所述调节模块203与一个或至少两个所述第一绑定垫101电连接端视所述显示驱动芯片10使用的通讯协议而异，当所述调节模块203与一个所述第一绑定垫101电连接时，可以分时进行讯号输入与输出，所述调节模块203与至少两个所述第一绑定垫101电连接时，可以在两个所述绑定垫101分别进行讯号的输入与输出。

具体地，当所述选择模块202导通两个所述第一绑定垫101接入所述电桥模块201时，所述调节模块203调节所述调节电阻rt以使得所述第一节点s1与所述第二节点s2的电参数相等，所述比较器2011输出量测讯息至所述读取模块204，所述读取模块204判断所述量测讯息并输出停止讯号至所述调节模块203，则所述调节模块203停止所述调节电阻rt电阻值的调节，并通过其连接的所述第一绑定垫101将当前的所述调节电阻rt的电阻值进行输出，相比于上一实施例，本实施例通过增加所述读取模块204，不仅可以快速量测得出绑定垫的电阻值，还提高了所述电阻测试电路20的便捷性和自动化程度，可以判断量测终点，停止所述调节电阻rt电阻值的调节并自动读取结果，直接将所述量测电阻值进行输出，进一步地提高了绑定垫电阻测试的效率。

更进一步地，所述电阻测试电路20不仅可以对位于所述显示驱动芯片10上的绑定垫进行电阻测试，还可以对位于所述柔性电路板30上的绑定垫进行电阻测试，具体地，请参照图1、图4以及图6所示(且本发明实施例以图4及图6所示的电阻测试电路为例，进行说明)，其中包括本发明实施例提供的显示驱动膜上芯片封装结构，其包含显示驱动芯片10以及柔性电路板30，所述显示驱动芯片10绑定于所述柔性电路板30上，其中，所述柔性电路板30包含柔性基板31，设于所述柔性基板31上的多条走线32及设于每一所述走线32两端的多个第二绑定垫102，所述多个第一绑定垫101与所述多条走线32其中一端的所述多个第二绑定垫102之间分别以导电绑定材料33一一对应绑定，其中至少两个所述第二绑定垫102分别对应于与所述电桥模块201选择性导通的所述至少两个第一绑定垫101，且所述至少两个第二绑定垫102彼此以走线321电连接。

具体地，需要进行电阻测试的所述第二绑定垫102同样两两一组，即两个所述第二绑定垫102分别对应于与所述电桥模块201选择性导通的两个所述第一绑定垫101并进行绑定连接，且该两个所述第二绑定垫102之间采用走线321彼此电连接，然后进行所述调节电阻rt的电阻值调节，使得所述第一节点s1以及第二节点s2的电参数相等，即可得出两个所述第一绑定垫101与两个所述第二绑定垫102的电阻值之和，具体地，所述第一绑定垫101本身的电阻值可忽略不计，本发明实施例的目的是测量所述第一绑定垫101与所述多个第二绑定垫102以导电绑定材料33绑定后，在绑定点产生的电阻，以确认绑定点的绑定质量，具体地，当所述导电绑定材料33与所述第一绑定垫101与所述多个第二绑定垫102之间的绑定质量良好时，绑定点的电阻小，对后续讯号传输影响较小，若导电绑定材料33与所述第一绑定垫101与所述多个第二绑定垫102之间的绑定质量不良时，例如空焊或接触不良时，绑定点的电阻很大，对后续讯号传输影响大。

另外，请参照图1、图4、图6以及图7所示，为本发明实施例提供的显示模块结构示意图，所述显示模块包括显示驱动膜上芯片封装结构、显示面板50以及时序控制电路板40，其中，所述显示驱动膜上芯片封装结构包括所述柔性电路板30以及绑定于所述柔性电路板30上的显示驱动芯片10。

所述时序控制电路板40包含基板41、设于所述基板上的走线42及设于走线42末端的多个第三绑定垫103，所述多个第二绑定垫102与所述多个第三绑定垫103之间分别以导电绑定材料33一一对应绑定。

在本发明实施例中，还可对位于所述时序控制电路板40上的所述第三绑定垫103进行电阻测试，其中，至少两个所述第二绑定垫102分别对应于与所述电桥模块201选择性导通的所述至少两个第一绑定垫101绑定连接，至少两个所述第三绑定垫103分别对应于前述至少两个第二绑定垫102(即前述通过所述至少两个第一绑定垫101与桥接模块201选择性导通的第二绑定垫102)绑定连接，且所述至少两个第三绑定垫103彼此以走线421电连接。

具体地，需要进行电阻测试的所述第三绑定垫103两两为一组，所述选择模块202将两个所述第一绑定垫101与所述电桥模块201进行导通，该两个所述第一绑定垫101再与两个所述第二绑定垫102进行绑定，该两个所述第二绑定垫102对应走线32另一端的两个所述第二绑定垫102再与两个所述第三绑定垫103进行绑定，以使得上述中的两个第一绑定垫101、四个第二绑定垫102、两个第三绑定垫103以及走线421连入所述电桥模块201，并形成回路，然后进行所述调节电阻rt的调节，使得所述第一节点s1与所述第二节点s2的电参数相等，进而所述读取模块204获取所述比较器2011的量测讯息，并输出至所述调节模块203，所述调节模块203控制所述调节电阻rt停止调节，并输出所述量测电阻值，需要说明的是，此时输出所述量测电阻值是两个所述第一绑定垫101与所述第二绑定垫102之间的绑定电阻值加上两个所述第二绑定垫102与所述第三绑定垫103之间的绑定电阻值，其中所述第一绑定垫101与所述第二绑定垫102之间的绑定电阻均可通过测试以得到其电阻值，两者相减，即可得到两个所述第二绑定垫102与所述第三绑定垫103的绑定电阻值。

请参照图7所示，需要说明的是，所述显示驱动芯片10通过所述第一绑定垫101与所述第二绑定垫102之间进行绑定，然后通过所述第二绑定垫102与位于所述时序控制电路板40上的第三绑定垫103进行绑定，以及与位于所述显示面板50上的绑定垫104进行绑定，以实现驱动信号在所述时序控制电路板40、所述显示驱动芯片10以及所述显示面板50之间的传输，以实现所述显示模块的正常显示功能。

本发明实施例提供的显示模块，通过在其显示驱动芯片上设置电阻测试电路，可以快速且便捷的测量位于显示驱动芯片上的第一绑定垫的电阻，位于柔性电路板上的第二绑定垫的电阻，以及位于时序控制电路板上的第三绑定垫的电阻，进而可以测试上述绑定垫的质量可靠性，且无需在驱动组件上设置测试点，可以留出更多的有效布线空间，有利于产品的轻薄化，且无需制作其他的电阻测试治具，节省了工艺成本和工艺时间，极大程度地提高了绑定垫的电阻测试效率，提高了良品率。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本发明实施例所提供的一种显示驱动芯片、显示驱动膜上芯片封装结构及显示模块进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例的技术方案的范围。

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