一种验证显示面板效果的驱动方法与流程
本发明涉及新像素排布验证技术领域,尤其涉及一种验证显示面板效果的驱动方法。
背景技术:
面板像素垂直排布,需要验证的delta像素排布。现有的面板均为垂直排布,为了验证delta排布,并测试验证spr算法时,需购买delta排布的产品。spr算法为subpixelrendering,用较少的像素实现较高解析度的显示效果。当想要验证的新排布为业内最新,则无法通过上述方法进行spr算法的验证,也不能直接判断新排布的显示效果。
技术实现要素:
为此,需要提供一种验证显示面板效果的驱动方法,可以用现有的像素垂直排布产品,直接验证新像素排布的显示效果和spr算法。
为实现上述目的,本申请提供了一种验证显示面板效果的驱动方法,所述显示面板包括:驱动单元和多个垂直排布的子像素;所述驱动单元与所述子像素电连接;所述驱动单元用于执行如下步骤:
获取模拟点像素单元的驱动信号,所述模拟点像素单元为由最少子像素构成的用于显示任意颜色的像素点;
根据模拟点像素单元与显示面板子像素的对应关系,生成要驱动的子像素驱动信号,驱动显示面板子像素点亮;所述对应关系包括模拟点像素单元的子像素与显示面板的至少两个面板点像素单元中的部分子像素一一对应,至少两个所述面板点像素单元中剩下的子像素保持关闭状态。
进一步地,所述对应关系为所述模拟点像素单元的子像素与显示面板的四个面板点像素单元中的部分子像素一一对应,四个所述面板点像素单元中剩下的子像素保持关闭状态。
进一步地,于同一行中,且处于开启状态的相邻两个子像素中间设置有三个处于保持关闭状态的子像素;
且在相邻两行中,处于开启状态的所述子像素位于处于保持关闭状态的子像素的上方或者下方。
进一步地,两行处于开启状态的所述子像素形成一条横线;三列处于开启状态的所述子像素形成一条竖线。
进一步地,所述对应关系为所述模拟点像素单元的子像素与显示面板的两个面板点像素单元中的部分子像素一一对应,两个所述面板点像素单元中剩下的子像素保持关闭状态。
进一步地,在同一行中,两个处于开启状态的所述子像素为一组,且同一组中的两个所述子像素中没有处于保持关闭状态的子像素;相邻两组中间间隔若干个处于保持关闭状态的子像素;
且在相邻两行所述子像素中,两组处于开启状态的所述子像素错位排列。
进一步地,在同一行中,相邻两组中间间隔一个处于保持关闭状态的子像素。
进一步地,多个所述子像素以rgb方式排列。
区别于现有技术,上述技术方案,通过使某些子像素一直处于关闭状态,即呈现黑色,且处于开启状态的所述子像素构成需要验证的新排布,此方法可以在不使用新像素排布面板的情况下,验证新像素排布面板的显示效果及进行新排布的spr算法。此方法可以在不使用新像素排布面板的情况下,验证新排布面板的显示效果及进行新排布的spr算法验证。
附图说明
图1为所述子像素垂直和delta排布示意图;
图2为垂直排布所述子像素模拟delta排布示意图;
图3为模拟delta排布横线和竖线示意图;
图4为垂直排布所述子像素模拟rggb排布示意图。
附图标记说明:
1、子像素。
具体实施方式
为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果,以下结合具体实施例并配合附图详予说明。
请参阅图1至图4,本申请提供了一种验证显示面板效果的驱动方法,所述显示面板包括:驱动单元和多个垂直排布的子像素1;所述驱动单元与所述子像素1电连接;所述驱动单元用于执行如下步骤:获取模拟点像素单元的驱动信号,所述模拟点像素单元为由最少子像素1构成的用于显示任意颜色的像素点;根据模拟点像素单元与显示面板子像素1的对应关系,生成要驱动的子像素1驱动信号,驱动显示面板子像素1点亮;所述对应关系包括模拟点像素单元的子像素1与显示面板的至少两个面板点像素单元中的部分子像素1一一对应,至少两个所述面板点像素单元中剩下的子像素1保持关闭状态。在本申请中,为了用现有的垂直方式排列的所述子像素1,检验其他方式排列的子像素1的显示效果及进行新排布的spr算法。在某些实施例中,所述面板点像素单元中所述子像素1的排列方式以rgb的方式进行排列;当然,也可以采用rgbw的方式进行排列。需要说明的是,通过所述驱动单元获取的模拟点像素单元的驱动信号,并将所述模拟点像素单元的驱动信号与所述显示面板上的子像素1进行对应,使对应后的所述子像素1呈现模拟点像素单元的排列方式。具体的,在特定的检验时间内使某些不需要的所述子像素1保持关闭状态。同时,通过开启部分子像素1组成需要检验的新的子像素1排布方式,即,模拟点像素单元,以此来检验采用新的排布方式时显示面板的显示效果。需要进一步说明的是,垂直排布是指按行列方向阵列形成的子像素1。以垂直排布的子像素1组成的面板,具有较高的解析度。同时在特定的检验时间内,保持关闭的所述子像素1所接收的资料为r0、g0或者b0;且处在开启状态的所述子像素1所接收的资料为0至255中间任意一灰阶,且可以根据现实需要通过改变灰阶来改变所述子像素1的亮度。若需要检验新的子像素1排布方式的显示效果时,只需根据新的排列方式,使部分所述子像素1处于开启状态组成所需检测的新的子像素1排列方式,同时使另一部分的所述子像素1处于关闭状态即可。当然,通过垂直排布的所述显示面板显示所述模拟点像素单元时,所述模拟点像素单元由多个面板点像素单元组成,即多个面板点像素单元通过开启部分子像素1和关闭另一部分子像素1的方式,显示所述模拟点像素单元。多个面板点像素单元通过中的子像素1通过不同的组合、排序可以显示多种不同的所述模拟点像素单元。上述技术方案,通过使某些子像素1一直处于关闭状态,即呈现黑色,且处于开启状态的所述子像素1构成需要验证的新排布,此方法可以在不使用新像素排布面板的情况下,验证新像素排布面板的显示效果及进行新排布的spr算法。此方法可以在不使用新像素排布面板的情况下,验证新排布面板的显示效果及进行新排布的spr算法验证。
请参阅图2,提供了用垂直排布的所述显示面板模拟delta排布的实施例,所述对应关系为所述模拟点像素单元的子像素1与四个面板点像素单元中的部分子像素1一一对应,四个所述面板点像素单元中剩下的子像素1保持关闭状态。在本实施例中,delta排布中的一个模拟点像素单元需通过4个所述面板点像素单元中的多个子像素1,经过不同的组合排列形成delta排布。4个所述面板点像素单元中的处于开启状态的子像素1与所述模拟点像素单元种的子像素1位置关系相同。具体的,以垂直排布模拟delta排布为例,用现有如图1左图所示,具有高解析度显示面板,让其奇数行的传输资料为r255-g0-b0-r0-g255-b0-r0-g0-b255-r0-g0-b0循环,偶数行的资料为r0-g0-b255-r0-g0-b0-r255-g0-b0-r0-g255-b0循环;即关闭其中三个面板点像素单元中的六个所述子像素1,同时关闭一个面板点像素单元。可以看出,接收亮子像素1资料的所述子像素1的排布与图1左图中的delta排布相同。在验证spr算法时会出现如图3所示的横线和竖线,使用较高解析度面板,观看面板判断效果时,需使人眼与面板的距离为正常观看时的三倍以上,来判断面板显示效果。本实施例通过将所述模拟点像素单元的子像素1与四个面板点像素单元中的部分子像素1一一对应,使四个所述面板点像素单元组成的新的像素单元与模拟点像素单元相同;同时通过驱动使某些所述子像素1保持关闭状态,使四个所述面板点像素单元组成的新的像素单元与模拟点像素单元相同。本实施例大幅降低了测试成本,同时可以用现有的像素垂直排布产品,直接验证新像素排布的显示效果和spr算法。
当然,请参阅图4,在某些实施例中,提供了用垂直排布的所述显示面板模拟rggb排布的实施例,在本实施例中,所述模拟点像素与所述显示面板点像素的对应关系为所述模拟点像素单元的子像素1与显示面板的两个面板点像素单元中的部分子像素1一一对应,两个所述面板点像素单元中剩下的子像素1保持关闭状态。在本实施例中,为了模拟rggb排布在测试的时候需将显示面板旋转90度,使原本的行为旋转后的列,原本的列为旋转后的行。在本实施中,2个所述面板点像素单元可以排列组合成一个所述模拟点像素单元,即,使两个所述面板点像素单元中的两个子像素1在测试期间始终处于关闭状态即可。需要进一步说明的是,在同一行中,两个处于开启状态的所述子像素1为一组,且同一组中的两个所述子像素1中没有处于保持关闭状态的子像素1;相邻两组中间间隔若干个处于保持关闭状态的子像素1;且在相邻两行所述子像素1中,两组处于开启状态的所述子像素1错位排列;具体的,可以使用此方法模拟rggb排列,所传输的资料为:奇数行的资料为r0-g255-b255循环,偶数行资料为r255-g255-b0循环,且再将图4左图中的所述显示面板旋转,观看面板判断效果时,同样需要使人眼与面板的距离为正常观看时的1.5倍以上,以此来判断面板显示效果。在同一行中,相邻两组中间间隔一个处于保持关闭状态的子像素1。通过使两个面板点像素单元中的两个子像素1一直处于关闭状态,即呈现黑色,且处于开启状态的所述子像素1构成需要验证的新排布,此方法可以在不使用新像素排布面板的情况下,验证新像素排布面板的显示效果及进行新排布的spr算法。此方法可以在不使用新像素排布面板的情况下,验证新排布面板的显示效果及进行新排布的spr算法验证。
在另一些实施例中,多个所述面板点像素单元也可排列形成pentile排布、钻石排布,在本实施例中,所述模拟点像素单元即为pentile排布,多个所述面板点像素单元通过开启或者关闭与所述模拟点像素单元相对应的子像素,再通过适当的旋转,同时通过调整视距变化达到测试显示效果的目的。即,当一个所述模拟点像素单元有n个所述面板像素单元排列而成的时候,就需要将视距扩大n倍或者其他倍数。
需要说明的是,尽管在本文中已经对上述各实施例进行了描述,但并非因此限制本发明的专利保护范围。因此,基于本发明的创新理念,对本文所述实施例进行的变更和修改,或利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,直接或间接地将以上技术方案运用在其他相关的技术领域,均包括在本发明的专利保护范围之内。
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