一种用于北斗导航芯片测试的吸附台的制作方法

本实用新型属于芯片测试技术领域，更具体地说，特别涉及一种用于北斗导航芯片测试的吸附台。

背景技术：

北斗导航芯片制作过程中，为保障不同恶劣环境使用所需，通常需要对北斗导航芯片进行高、低温测试，为此，需要使用芯片测试的吸附台对北斗导航芯片进行吸附固定，保障测试过程的稳定性。

芯片测试的吸附台可以参考cn210347687u号专利，其主要包括吸附台本体，所述吸附台本体的一端横向设置有加热棒安装孔及热电偶安装孔，吸附台本体的前侧壁设置有气路槽，吸附台本体的另一端设置有与真空泵相连接并连通气路槽的吸气通道，吸附台本体的前侧还设置有封盖气路槽并可升降调节的挡板，所述挡板与吸附台本体之间沿横向间隔竖向设置有若干个与气路槽相连通并用于吸附芯片的真空泵吸气孔。

现有类似的芯片测试的吸附台在使用时，单次只能对单独一个北斗导航芯片进行吸附固定作业，对北斗导航芯片测试效率较慢，较为影响北斗导航芯片测试进度，并且对北斗导航芯片限位效果较差，单纯依靠吸力对北斗导航芯片进行固定，容易导致北斗导航芯片吸合部位发生松动，进而影响北斗导航芯片测试过程的稳定性。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种用于北斗导航芯片测试的吸附台，以解决现有类似芯片测试的吸附台在使用时，单次只能对单独一个北斗导航芯片进行吸附固定作业，对北斗导航芯片测试效率较慢，较为影响北斗导航芯片测试进度，并且对北斗导航芯片限位效果较差，单纯依靠吸力对北斗导航芯片进行固定，容易导致北斗导航芯片吸合部位发生松动，进而影响北斗导航芯片测试过程的稳定性的问题。

本实用新型用于北斗导航芯片测试的吸附台的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

一种用于北斗导航芯片测试的吸附台，包括底座、吸附座、联动推板和五通管；所述底座为双层结构，底座顶部开设有一处滑孔；所述吸附座呈排列状安装于底座内部，固定限位块和活动限位块均位于吸附座顶部；所述联动推板位于底座后端顶部，联动推板底部开设有一处螺孔，联动推板底部与调节螺栓相连，联动推板顶部与活动限位块相连；所述五通管安装于底座前端内部，五通管通过管道与真空泵相连通。

进一步的，所述吸附座顶部开设有多处吸附孔，吸附座内部开设有一处吸附腔，且吸附孔底部与吸附腔相连通，吸附腔外侧开设有一处排气口。

进一步的，所述底座顶部开设有四处装配口，吸附座分别安装于底座顶部装配口内，且五通管分别与四处吸附座底部所开设的排气口相连通，吸附座通过五通管与真空泵相连通。

进一步的，所述吸附座顶部端面前端安装有一处固定限位块，吸附座顶部端面后端开设有三处导向滑槽，且活动限位块位于吸附座顶部端面后端，活动限位块底部设有三处滑块，活动限位块底部滑块滑动连接于吸附座顶部导向滑槽内。

进一步的，所述联动推板底部滑动于底座顶部所开设的滑孔内，联动推板顶部分别通过螺钉与四处活动限位块固定连接；所述调节螺栓转动于底座后端内部，且调节螺栓螺纹连接于联动推板底部螺孔内。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

1.吸附座的设置，有利于当北斗导航芯片平放在吸附座顶部端面上时，吸附腔内部空气抽送至真空泵内时，外部空气通过吸附孔吸入吸附腔内，北斗导航芯片受吸附孔部位吸力的影响贴合在吸附座顶部端面上，对北斗导航芯片进行吸附固定，保障北斗导航芯片测试的稳定性；并且配合五通管的使用，可通过五通管同步对四处吸附座内部吸附腔内的空气进行抽取，实现对四处吸附座顶部北斗导航芯片同步吸附固定作业，以便人员依次对四处北斗导航芯片进行测试，提升北斗导航芯片测试效率。

2.固定限位块和活动限位块的设置，有利于根据所测试北斗导航芯片的规格，对吸附座顶部活动限位块进行滑动调节，使北斗导航芯外围分别与固定限位块和活动限位块内壁相贴合，从而通过固定限位块和活动限位块对北斗导航芯片实现限位作业，进一步保障北斗导航芯片测试的稳定性；并且配合联动推板和调节螺栓的使用，可通过转动调节螺栓带动联动推板在底座顶部前后移动，从而通过联动推板带动四处吸附座顶部活动限位块前后同步移动，保障吸附座顶部北斗导航芯片限位效果。

附图说明

图1是本实用新型的前侧轴视结构示意图。

图2是本实用新型的后侧轴视结构示意图。

图3是本实用新型的底座与吸附座拆分结构示意图。

图4是本实用新型的吸附座轴视结构示意图。

图5是本实用新型的吸附座与活动限位块剖视拆分结构示意图。

图中，部件名称与附图编号的对应关系为：

1、底座；101、装配口；102、滑孔；2、吸附座；201、吸附孔；202、导向滑槽；203、吸附腔；204、排气口；3、固定限位块；4、活动限位块；401、滑块；5、联动推板；501、螺孔；6、调节螺栓；7、五通管。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不能用来限制本实用新型的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例：

如附图1至附图5所示：

本实用新型提供一种用于北斗导航芯片测试的吸附台，包括底座1、吸附座2、联动推板5和五通管7；底座1为双层结构，底座1顶部开设有一处滑孔102；吸附座2呈排列状安装于底座1内部，固定限位块3和活动限位块4均位于吸附座2顶部；联动推板5位于底座1后端顶部，联动推板5底部开设有一处螺孔501，联动推板5底部与调节螺栓6相连，联动推板5顶部与活动限位块4相连；联动推板5底部滑动于底座1顶部所开设的滑孔102内，联动推板5顶部分别通过螺钉与四处活动限位块4固定连接；调节螺栓6转动于底座1后端内部，且调节螺栓6螺纹连接于联动推板5底部螺孔501内，可通过转动调节螺栓6带动联动推板5在底座1顶部前后移动，从而通过联动推板5带动四处吸附座2顶部活动限位块4前后同步移动，保障吸附座2顶部北斗导航芯片限位效果；五通管7安装于底座1前端内部，五通管7通过管道与真空泵相连通。

其中，吸附座2顶部开设有多处吸附孔201，吸附座2内部开设有一处吸附腔203，且吸附孔201底部与吸附腔203相连通，吸附腔203外侧开设有一处排气口204；具体作用，当北斗导航芯片平放在吸附座2顶部端面上时，吸附腔203内部空气抽送至真空泵内时，外部空气通过吸附孔201吸入吸附腔203内，北斗导航芯片受吸附孔201部位吸力的影响贴合在吸附座2顶部端面上，对北斗导航芯片进行吸附固定，保障北斗导航芯片测试的稳定性。

其中，底座1顶部开设有四处装配口101，吸附座2分别安装于底座1顶部装配口101内，且五通管7分别与四处吸附座2底部所开设的排气口204相连通，吸附座2通过五通管7与真空泵相连通；具体作用，可通过五通管7同步对四处吸附座2内部吸附腔203内的空气进行抽取，实现对四处吸附座2顶部北斗导航芯片同步吸附固定作业，以便人员依次对四处北斗导航芯片进行测试，提升北斗导航芯片测试效率。

其中，吸附座2顶部端面前端安装有一处固定限位块3，吸附座2顶部端面后端开设有三处导向滑槽202，且活动限位块4位于吸附座2顶部端面后端，活动限位块4底部设有三处滑块401，活动限位块4底部滑块401滑动连接于吸附座2顶部导向滑槽202内；具体作用，可根据所测试北斗导航芯片的规格，对吸附座2顶部活动限位块4进行滑动调节，使北斗导航芯外围分别与固定限位块3和活动限位块4内壁相贴合，从而通过固定限位块3和活动限位块4对北斗导航芯片实现限位作业，进一步保障北斗导航芯片测试的稳定性。

本实施例的具体使用方式与作用：

本实用新型在使用时，工作人员根据所测试北斗导航芯片的规格，对吸附座2顶部活动限位块4进行滑动调节，使活动限位块4与固定限位块3间距满足北斗导航芯片限位所需；接下来工作人员北斗导航芯片平放在吸附座2顶部端面，使北斗导航芯外围分别与固定限位块3和活动限位块4内壁相贴合，真空泵通过五通管7将吸附座2内部吸附腔203内的空气抽取至外部，外部空气通过吸附孔201吸入吸附腔203内，北斗导航芯片受吸附孔201部位吸力的影响贴合在吸附座2顶部端面上，对北斗导航芯片进行吸附固定；工作人员即可依次对吸附座2顶部吸附固定后的四处北斗导航芯片进行测试作业。

本实用新型的实施例是为了示例和描述起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本实用新型限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本实用新型的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本实用新型从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。

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